Next, we checked the microstructure

Next, we checked the microstructure of the films using XRD, as shown in Fig. 2. The as-deposited sample displays several small peaks, the positions of which match with those of (0 15) and (1 0 10) planes of the BizTe phase, respectively.

After annealing at elevated temperatures, the XRD graph displays the emergence of some new peaks.

For the sample annealed at 100 oc for 8 h, three small peaks appear around 17.5. 44.5 and 54.1 the peak positions corresponding to (006) (0015) and (0018) planes of BizTe3.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ถัดไป เราเลือกต่อโครงสร้างจุลภาคของฟิล์มที่ใช้ XRD ดังที่แสดงใน Fig. 2 ฝากเป็นตัวอย่างแสดงยอดเล็กหลาย ตำแหน่งของการจับคู่กับ (0 15) (1 0 10) และเครื่องบินของ BizTe ระยะ ตามลำดับ หลังจากการอบเหนียวที่อุณหภูมิสูง กราฟ XRD แสดงการเกิดขึ้นของบางยอดใหม่ สำหรับตัวอย่าง annealed ที่ 100 องศาเซลเซียสใน 8 h ยอดเขาเล็กสามปรากฏ ประมาณ 17.5 44.5 และ 54.1 สูงสุดตำแหน่งที่สอดคล้องกับ (006) (0015) และเครื่องบิน (0018) ของ BizTe3

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ต่อไปเราจะมีการตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของภาพยนตร์ที่ใช้ XRD ดังแสดงในรูปที่ 2. กลุ่มตัวอย่างตามที่ฝากแสดงยอดเขาเล็ก ๆ หลายตำแหน่งซึ่งตรงกับผู้ที่ (0 15) และ (1 0 10) เครื่องบินของเฟส BizTe ตามลำดับ. หลังจากการอบที่อุณหภูมิสูงจะแสดงกราฟ XRD เกิด ของยอดเขาใหม่บาง. สำหรับตัวอย่างอบที่ 100 oc เป็นเวลา 8 ชั่วโมง, สามยอดขนาดเล็กปรากฏรอบ 17.5 44.5 และ 54.1 ในตำแหน่งที่สอดคล้องกับจุดสูงสุด (006) (0015) และ (0018) เครื่องบินของ BizTe3