Transmission electron microscope (T

Transmission electron microscope (TEM) images and selected area electron diffraction (SAED) were taken on FEI Tecnai TEM with an acceleration voltage of 300 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ยการ) ภาพและเลือกพื้นที่การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน (SAED) ที่ถ่ายบนเฟย Tecnai ยการ ด้วยการเร่งแรง 300 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ภาพและเลนส์อิเล็กตรอนพื้นที่ที่เลือก (Saed) ได้รับการดำเนินการในเฟ Tecnai TEM กับการเร่งความเร็วของแรงดันไฟฟ้า 300 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ( TEM ) และเลือกพื้นที่ภาพการเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน ( saed ) ถ่ายบนเฟย tecnai เต็มๆ ด้วยการเร่งความเร็วแรงดัน 300 KV .