Fig. 1a illustrates a scanning elec

Fig. 1a illustrates a scanning electron microscopy (SEM) image of the specimen surface with 5 wt.% MoS2, in which the stacking conditions of the MoS2 nanoparticles can be observed.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูป 1a แสดงแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) รูปแบบของพื้นผิวชิ้นงานทดสอบด้วย wt.% 5 MoS2 ซึ่งสามารถสังเกตเงื่อนไขซ้อนเก็บกัก MoS2

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. 1a แสดงให้เห็นถึงภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ของพื้นผิวชิ้นงานที่มี 5 WT. MoS2% ซึ่งในเงื่อนไขซ้อนของอนุภาคนาโน MoS2 สามารถสังเกต