High Resolution Scanning Electron M

High Resolution Scanning Electron Microscopy (HRSEM) measurements
were performed using a Merlin Field Emission SEM(FE–SEM) from Zeiss. The microscope is equipped with an on-axis
in-lens secondary electron detector as well as a high efficiency offaxis
secondary electron detector.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (HRSEM) วัด
ได้ดำเนินการโดยใช้เมอร์ลินสนาม Emission SEM (FE-SEM) จาก Zeiss กล้องจุลทรรศน์เป็นอุปกรณ์ที่มีอยู่บนแกน
ในเลนส์ตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิเช่นเดียวกับ ciency Fi สูง EF offaxis
ตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( hrsem ) วัดการใช้เขตข้อมูลการปล่อย ( Fe ) เมอร์ลิน SEM SEM ) จาก Zeiss . กล้องจุลทรรศน์เป็นอุปกรณ์ที่มีในแกนในเลนส์รองอิเล็กตรอนตรวจจับ รวมทั้ง EF จึง offaxis ประสิทธิภาพสูงเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิ