X-ray diffraction was carried out o

X-ray diffraction was carried out on a X'Pert Pro diffractometer
(PANalytical, USA) equipped with a Cu Kα radiation source
(λ¼0.154 nm). The voltage and the current used were 40 kV and
40 mA, respectively. The diffraction data were collected from
2θ¼1.5–101 in a fixed-time mode with a step interval of 0.011.
The basal spacing of the silicate layer, d, was calculated by means
of the Bragg equation:
λ ¼ 2d sin θ ð7Þ
where θ is the diffraction position and λ is the wavelength.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ถูกดำเนินบน diffractometer X'Pert Pro(PANalytical สหรัฐอเมริกา) ที่เพียบพร้อมไป ด้วยแหล่งรังสี Cu Kα(Λ¼0.154 nm) แรงดันไฟฟ้าและกระแสที่ใช้ได้ 40 kV และ40 mA ตามลำดับ ข้อมูลการเลี้ยวเบนได้รวบรวมจาก2θ¼1.5 – 101 ในโหมดเวลาคงมีช่วงขั้นตอนของ 0.011คำนวณระยะห่างของชั้นซิลิเคท d โรค โดยวิธีของสมการของ Bragg:Λ 2 มิติสี่ sin θ ð7Þที่θคือ ตำแหน่งการเลี้ยวเบน และλคือ ความยาวคลื่น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffraction ได้รับการดำเนินการใน X'pert Pro มาตรการเลี้ยวเบน
(PANalytical สหรัฐอเมริกา) พร้อมกับ Cu Kαแหล่งรังสี
(λ¼0.154นาโนเมตร) แรงดันและกระแสที่ใช้ 40 กิโลโวลต์และ
40 mA ตามลำดับ ข้อมูลการเลี้ยวเบนที่ถูกเก็บรวบรวมจาก
2θ¼1.5-101ในโหมดเวลาคงมีช่วงขั้นตอนของ 0.011.
ระยะห่างฐานของชั้นซิลิเกต, D, ที่คำนวณได้จากวิธีการ
ของสมแบร็ก:
λบาป¼ 2d θð7Þ
ที่ θคือตำแหน่งการเลี้ยวเบนและλคือความยาวคลื่น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ถูกหามออกใน x'pert โปรดิฟแฟรกโทมิเตอร์
( panalytical , USA ) พร้อมกับ Cu K αรังสีแหล่ง
( λ¼ 0.154 nm ) แรงดันและกระแสที่ใช้ 40 กิโล
มาและ 40 ตามลำดับ ข้อมูลโดยรวบรวมจาก
2 θ¼ 1.5 – 101 ในเวลาที่กำหนดด้วยโหมดขั้นตอนช่วง 0.011 .
แรกเริ่ม ระยะห่างของชั้นซิลิเกต , คำนวณโดยวิธี
Dของแบร็กสมการ :
λ¼ 2D บาปθð 7 Þ
ที่θเป็นโดยตำแหน่ง และλเป็นความยาวคลื่น