were caused due to EAC sidewall del

were caused due to EAC sidewall delam,such as substrate trace crack failure and within Si delam failure.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เกิดเนื่องจาก EAC แก้มยาง delam เช่นการติดตามพื้นผิวแตกความล้มเหลวภายในศรี delam ล้มเหลว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เกิดเนื่องจากการ EAC delam แก้มเช่นพื้นผิวร่องรอยความล้มเหลวแตกและอยู่ในศรี delam ความล้มเหลว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มีสาเหตุมาจาก EAC แก้ม delam เช่นพื้นผิวรอยร้าวและความล้มเหลวภายในจังหวัด delam ความล้มเหลว