The resolution of high-resolution i

The resolution of high-resolution instruments can be changed by adjusting the width of the entrance and exit slits into the spectrometer. Typical HR-ICP-MS instruments have

resolving powers up to 10,000 and are typically operated at preset resolution settings for low, medium or high-resolution to make their operation easier for the user. As we can see from Table 1, the use of HR-ICP-MS will solve many, but not all interference problems.

High resolution instruments also have several limitations. First of all, they typically cost 2-3 times that of a quadrupole ICP-MS instrument. They are also more complex to operate and maintain. In addition, for every 10-fold increase in resolving power, there is a concomitant decrease in signal intensity. This may limit the actual detection capabilities if the concentration of the analyte of interest is very low. Finally, they are much slower than a quadrupole system. Due to the longer settling times required by the magnet when the voltages are adjusted for large mass jumps, HR-ICP-MS instruments typically are 4-5 times slower than a quadrupole instrument. This makes them unsuitable for the rapid, high-throughput, multielemental analyses that are routine in production-type laboratories. They are also not the instrument of choice for transient signal analysis, including those obtained using Laser Ablation techniques for elemental profiling or chromatographic separations as their scan speeds are too slow to look at more than 1-3 elements of similar mass in an analysis. As a result, this type of instrument is generally found in research institutions and in laboratories with highly specialized needs for a low number of samples.

A second type of HR-ICP-MS instrument is also available that uses multiple detectors – this type is called a Multi-Collector HR-ICP-MS or MC-ICP-MS. These instruments are generally designed and developed for the purpose of performing high-precision isotope ratio analyses. Since an array of 5-10 detectors can be positioned around the exit slit of a double-focusing system, the isotopes of a single element can generally all be determined simultaneously, leading to the technique’s high-precision. The disadvantage of this type of system is that the isotopes must all be in a narrow mass range (± 15-20% of the nominal mass) as the magnetic sector settings remained fixed while only the electric sector settings are scanned. This generally means that each elemental isotopic system must be measured in a separate analysis. This type of instrument is generally not suitable for routine multi-elemental analysis for major and minor constituents and is typically only used for performing isotope ratio measurements.

Once the ions have been separated by their mass-to-charge ratio, they must then be detected or counted by a suitable detector. The fundamental purpose of the detector is to translate the number of ions striking the detector into an electrical signal that can be measured and related to the number of atoms of that element in the sample via the use of calibration standards. Most detectors use a high negative voltage on the front surface of the detector to attract the positively charged ions to the detector. Once the ion hits the active surface of the detector, a number of electrons is released which then strike the next surface of the detector, amplifying the signal. In the past several years, the channel electron multiplier (CEM), which was used on earlier ICP-MS instruments, has been replaced with discrete dynode type detectors (see Figure 6). Discrete dynode detectors generally have wider linear dynamic ranges than CEMs, which is important in ICP-MS as the concentrations analyzed may vary from sub-ppt to high ppm. The discrete dynode

type detector can also be run in two modes, pulse-counting and analog, which further extends the instrument’s linear range and can be used to protect the detector from excessively high signals.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความละเอียดของเครื่องมือที่มีความละเอียดสูงสามารถเปลี่ยนแปลงได้ โดยการปรับความกว้างของทางเข้า และออกจาก slits ในสเปกโตรมิเตอร์ มีเครื่องมือ HR ICP MS ทั่วไปแก้ไขอำนาจถึง 10000 และจะโดยปกติดำเนินการในการตั้งค่าความละเอียดไว้ต่ำ ปานกลาง หรือความละเอียดสูงเพื่อให้การดำเนินงานของพวกเขาง่ายขึ้นสำหรับผู้ใช้ เราสามารถดูจากตารางที่ 1 การใช้ HR ICP MS จะแก้หลาย แต่มีปัญหาสัญญาณรบกวนเครื่องมือความละเอียดสูงยังมีข้อจำกัดหลายประการ ประการแรก พวกเขาโดยทั่วไปต้นทุน 2 - 3 ครั้งที่เครื่องมือ quadrupole ICP MS พวกเขามีความซับซ้อนมากการทำงาน และรักษา นอกจากนี้ สำหรับทุก 10-fold เพิ่มแก้ไขพลังงาน ได้ลดความมั่นใจในความเข้มของสัญญาณ นี้อาจจำกัดความสามารถในการตรวจสอบจริงถ้าความเข้มข้นของ analyte น่าสนใจมาก ในที่สุด พวกเขาจะช้ากว่าระบบ quadrupole เนื่องจากเวลา settling อีกต่อไปจำเป็นต้องใช้แม่เหล็กเมื่อแรงดันมีการปรับปรุงสำหรับกระโดดโดยรวมขนาดใหญ่ เครื่องมือ HR ICP MS ปกติได้ 4 - 5 ครั้งทำงานช้ากว่าเครื่องมือ quadrupole เช่นนี้ทำให้พวกเขาไม่เหมาะสมสำหรับการวิเคราะห์อย่างรวดเร็ว อัตราความ เร็วสูง multielemental ที่ประจำในห้องปฏิบัติการชนิดการผลิต พวกเขาจะยังไม่เครื่องมือที่เลือกสำหรับการวิเคราะห์สัญญาณแบบฉับพลัน รวมถึงผู้ที่ได้รับการใช้เทคนิคการจี้เลเซอร์สำหรับสร้างโพรไฟล์ธาตุหรือ chromatographic ประโยชน์เป็นแกนของ ความเร็วเป็นช้าเกินไปที่องค์ประกอบมากกว่า 1-3 ของมวลคล้ายการวิเคราะห์ ผล เครื่องมือชนิดนี้จะพบโดยทั่วไป ในสถาบันวิจัย และห้องปฏิบัติการมีความต้องการสูงเฉพาะสำหรับจำนวนตัวอย่างน้อยชนิดที่สองชั่วโมง ICP MS เครื่องมือยังมีที่ใช้ตรวจจับหลาย – ชนิดนี้เรียกว่าเก็บหลายชั่วโมง-ICP-MS หรือ MC ICP MS เครื่องมือเหล่านี้ได้โดยทั่วไปมีการออกแบบ และพัฒนาเพื่อทำการวิเคราะห์อัตราส่วนไอโซโทปความแม่นยำสูง เนื่องจากสามารถวางของเครื่องตรวจจับ 5-10 รอบร่องออกของระบบกำลังสอง ไอโซโทปขององค์ประกอบเดียวสามารถโดยทั่วไปทั้งหมดสามารถกำหนดพร้อมกัน นำไปสู่เทคนิคแม่นยำ ข้อเสียของระบบชนิดนี้ได้ว่า ไอโซโทปที่ทุกต้องในช่วงมวลแคบ (± 15-20% ของมวลระบุ) เป็นการตั้งค่าแม่เหล็กภาคยังคงคงที่ในขณะที่สแกนเฉพาะภาคไฟฟ้าค่า โดยทั่วไปซึ่งหมายความ ว่า ต้องวัดระบบ isotopic แต่ละธาตุในการแยกวิเคราะห์ เครื่องมือชนิดนี้โดยทั่วไปจะไม่เหมาะสำหรับประจำ constituents และหลายธาตุวิเคราะห์ และเท่านั้นโดยปกติการวัดอัตราส่วนของไอโซโทปเมื่อมีการแยกประจุที่ โดยอัตราส่วนของมวลค่าธรรมเนียม พวกเขาต้องแล้วตรวจพบ หรือตรวจนับ ด้วยเครื่องตรวจจับที่เหมาะสม วัตถุประสงค์พื้นฐานของเครื่องตรวจจับจะแปลจำนวนประจุที่โดดเด่นที่จับเป็นเป็นสัญญาณไฟฟ้าที่สามารถวัด และที่เกี่ยวข้องกับจำนวนอะตอมขององค์ประกอบนั้นในตัวอย่างผ่านการใช้การปรับเทียบมาตรฐาน จับส่วนใหญ่ใช้แรงดันไฟฟ้าลบสูงบนพื้นผิวด้านหน้าของเครื่องตรวจจับเพื่อดึงดูดประจุบวกคิดค่าธรรมเนียมกับเครื่องตรวจจับ เมื่อไอออนคุณต้องการพื้นที่การใช้งานของเครื่องตรวจจับ จำนวนอิเล็กตรอนออกซึ่งตีพื้นผิวของเครื่องตรวจจับ มือสัญญาณถัดไปแล้ว ในหลายปีที่ผ่านมา ตัวคูณอิเล็กตรอนช่อง (CEM), ซึ่งถูกใช้ในเครื่อง ICP MS ก่อนหน้า ได้ถูกแทนที่ ด้วย dynode เดี่ยว ๆ ชนิดเครื่องตรวจจับ (ดูรูปที่ 6) จับ dynode เดี่ยว ๆ โดยทั่วไปได้กว้างกว่าเชิงไดนามิกช่วงกว่า CEMs ซึ่งเป็นสิ่งสำคัญใน ICP MS เป็นความเข้มข้นวิเคราะห์อาจแตกต่างย่อย ppt จากการ ppm สูง Dynode แยกกันเครื่องตรวจจับชนิดสามารถสามารถเรียกใช้ในโหมดสอง นับชีพจร และแบบแอนะ ล็อก ที่ขยายช่วงเชิงเส้นของเครื่องมือเพิ่มเติม และสามารถใช้เพื่อป้องกันการตรวจจับสัญญาณที่สูงมากเกินไป

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความละเอียดของเครื่องมือความละเอียดสูงที่สามารถเปลี่ยนแปลงได้โดยการปรับความกว้างของทางเข้าและทางออกกรีดเข้าไปในสเปกโตรมิเตอร์ โดยทั่วไปตราสาร HR-ICP-MS มีการแก้ไขอำนาจถึง10,000 และมีการดำเนินการที่มักจะตั้งค่าความละเอียดที่ตั้งไว้สำหรับต่ำปานกลางหรือความละเอียดสูงเพื่อให้การดำเนินงานของพวกเขาง่ายขึ้นสำหรับผู้ใช้ ในขณะที่เราสามารถดูได้จากตารางที่ 1 การใช้งานของ HR-ICP-MS จะแก้หลายปัญหา แต่ไม่รบกวนทั้งหมด. ตราสารความละเอียดสูงนอกจากนี้ยังมีข้อ จำกัด หลายประการ แรกของทั้งหมดที่พวกเขามักจะเสียค่าใช้จ่าย 2-3 ครั้งที่ของ quadrupole เครื่องมือ ICP-MS พวกเขายังมีความซับซ้อนมากขึ้นในการดำเนินงานและการบำรุงรักษา นอกจากนี้สำหรับทุกคนเพิ่มขึ้น 10 เท่าในการแก้ปัญหาพลังงานมีการลดลงไปด้วยกันในความเข้มของสัญญาณ นี้อาจ จำกัด ขีดความสามารถในการตรวจสอบที่เกิดขึ้นจริงถ้าความเข้มข้นของวิเคราะห์ที่น่าสนใจอยู่ในระดับต่ำมาก ในที่สุดพวกเขาจะได้ช้ากว่าระบบ quadrupole เนื่องจากการตกตะกอนนานเท่าที่จำเป็นโดยแม่เหล็กเมื่อแรงดันไฟฟ้าที่มีการปรับกระโดดมวลขนาดใหญ่เครื่องมือ HR-ICP-MS มักจะ 4-5 ครั้งช้ากว่าตราสาร quadrupole ซึ่งทำให้พวกเขาไม่เหมาะสมสำหรับอย่างรวดเร็วสูง throughput วิเคราะห์ multielemental ที่มีกิจวัตรประจำวันในห้องปฏิบัติการการผลิตชนิด พวกเขายังไม่ได้เครื่องมือของทางเลือกสำหรับการวิเคราะห์สัญญาณชั่วคราวรวมทั้งผู้ที่ได้รับการใช้เทคนิคเลเซอร์ระเหยสำหรับโปรไฟล์ธาตุหรือโครมาแยกเป็นความเร็วในการสแกนของพวกเขาจะช้าเกินไปที่จะมองมากกว่า 1-3 องค์ประกอบของมวลที่คล้ายกันในการวิเคราะห์ เป็นผลให้ประเภทของตราสารนี้พบได้ทั่วไปในสถาบันการวิจัยและในห้องปฏิบัติการที่มีความต้องการพิเศษสำหรับจำนวนต่ำของตัวอย่าง. ประเภทที่สองของตราสาร HR-ICP-MS นอกจากนี้ยังมีที่ใช้ตรวจจับหลาย - ประเภทนี้เรียกว่า แบบ Multi-สะสม HR-ICP-MS หรือ MC-ICP-MS เครื่องมือนี้ได้รับการออกแบบโดยทั่วไปและการพัฒนาเพื่อการดำเนินการที่มีความแม่นยำสูงการวิเคราะห์อัตราส่วนไอโซโทป ตั้งแต่ 5-10 อาร์เรย์ของเครื่องตรวจจับสามารถมีตำแหน่งรอบช่องทางออกของระบบดับเบิลเน้นไอโซโทปของธาตุเดียวโดยทั่วไปทุกคนสามารถได้รับการพิจารณาพร้อมกันที่นำไปสู่เทคนิคที่มีความแม่นยำสูง ข้อเสียของประเภทของระบบนี้ก็คือว่าไอโซโทปต้องทั้งหมดจะอยู่ในช่วงแคบ ๆ มวล (± 15-20% ของมวลน้อย) ในขณะที่การตั้งค่าภาคแม่เหล็กยังคงคงที่ขณะที่มีเพียงการตั้งค่าภาคไฟฟ้าจะถูกสแกน นี้โดยทั่วไปหมายถึงว่าระบบไอโซโทปแต่ละธาตุจะต้องมีการวัดในการวิเคราะห์แยกต่างหาก ประเภทของตราสารนี้โดยทั่วไปไม่เหมาะสำหรับประจำการวิเคราะห์แบบหลายธาตุสำหรับองค์ประกอบหลักและรองและโดยปกติจะใช้เพียงสำหรับการดำเนินการการวัดอัตราส่วนไอโซโทป. เมื่อไอออนที่ได้รับการแยกออกจากกันโดยอัตราส่วนมวลที่จะเสียค่าใช้จ่ายของพวกเขาพวกเขาก็จะต้องมีการตรวจพบ หรือนับจากเครื่องตรวจจับที่เหมาะสม วัตถุประสงค์พื้นฐานของเครื่องตรวจจับคือการแปลจำนวนไอออนที่โดดเด่นเครื่องตรวจจับเป็นสัญญาณไฟฟ้าที่สามารถวัดได้และที่เกี่ยวข้องกับจำนวนของอะตอมของธาตุในตัวอย่างที่ผ่านการใช้มาตรฐานการสอบเทียบ ส่วนใหญ่จะใช้เครื่องตรวจจับแรงดันสูงในเชิงลบพื้นผิวด้านหน้าของเครื่องตรวจจับที่จะดึงดูดไอออนประจุบวกในการตรวจจับ เมื่อไอออนกระทบพื้นผิวที่ใช้งานของเครื่องตรวจจับจำนวนอิเล็กตรอนถูกปล่อยออกมาแล้วตีต่อไปพื้นผิวของเครื่องตรวจจับการขยายสัญญาณ ในหลายปีที่ผ่านมาคูณช่องทางอิเล็คตรอน (CEM) ซึ่งถูกนำมาใช้ก่อนหน้านี้ในตราสาร ICP-MS ได้รับการแทนที่ด้วยเครื่องตรวจจับประเภท dynode เนื่อง (ดูรูปที่ 6) เครื่องตรวจจับ dynode ไม่ต่อเนื่องโดยทั่วไปมีช่วงแบบไดนามิกเชิงเส้นกว้างกว่า CEMs ซึ่งเป็นสิ่งสำคัญใน ICP-MS เป็นความเข้มข้นวิเคราะห์อาจแตกต่างจากย่อยไป ppt ppm สูง dynode เนื่องตรวจจับชนิดนอกจากนี้ยังสามารถทำงานในสองโหมดการเต้นของชีพจรนับและอนาล็อกซึ่งต่อไปจะขยายช่วงเชิงเส้นของตราสารและสามารถใช้ในการป้องกันตรวจจับสัญญาณจากที่สูงมากเกินไป

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความละเอียดของเครื่องมือที่มีความละเอียดสูงที่สามารถเปลี่ยนแปลงได้โดยการปรับความกว้างของทางเข้าและทางออก slits ในสเปกโตรมิเตอร์ โดยทั่วไป hr-icp-ms เครื่องมือได้

แก้ไขพลังได้ถึง 10 , 000 และมักจะดำเนินการในการตั้งค่าความละเอียดไว้ที่ระดับกลางหรือสูง เพื่อให้งานของพวกเขาง่ายขึ้นสำหรับผู้ใช้ ในฐานะที่เราสามารถดูจากตารางที่ 1การใช้ hr-icp-ms จะแก้มาก แต่ไม่ทั้งหมด ปัญหาการรบกวน

ความละเอียดสูงเครื่องมือยังมีหลายข้อจำกัด แรกของทั้งหมดที่พวกเขาโดยทั่วไปค่าใช้จ่าย 2-3 ครั้ง ที่ของคำ ICP-MS เครื่องดนตรี พวกเขายังมีที่ซับซ้อนมากขึ้นในการใช้งานและดูแลรักษา นอกจากนี้ ทุก ๆ 10 เท่า เพิ่มอำนาจการตัดสินใจ มีความเข้มลดลงเกิดสัญญาณนี้อาจ จำกัด การตรวจสอบความสามารถจริง ถ้าความเข้มข้นของครู ดอกเบี้ยต่ำมาก ในที่สุด , พวกเขาจะช้ากว่าระบบคำ . เนื่องจากการตกตะกอนเป็นอีกครั้ง โดยแม่เหล็กเมื่อแรงดันไฟฟ้าสามารถกระโดดมวลขนาดใหญ่ hr-icp-ms เครื่องมือมักจะช้ากว่าเป็นคำใช้ 4-5 ครั้งนี้ทำให้พวกเขาไม่เหมาะสมสำหรับช่วยอย่างรวดเร็ว วิเคราะห์ multielemental ที่ประจำในห้องปฏิบัติการ ประเภทการผลิต พวกเขาก็ไม่ได้เป็นเครื่องมือของทางเลือกสำหรับการวิเคราะห์สัญญาณชั่วคราวรวมทั้งผู้ที่ได้รับการใช้เทคนิคเลเซอร์ สำหรับธาตุโปรไฟล์หรือเมื่อแยกเป็น ความเร็วในการสแกนจะช้าเกินไปที่จะมองมากกว่า 2 องค์ประกอบของมวลที่คล้ายกันในการวิเคราะห์ ผลของเครื่องมือชนิดนี้พบได้ทั่วไปในสถาบันการวิจัยและห้องปฏิบัติการที่มีความต้องการสูงเฉพาะสำหรับจำนวนน้อยตัวอย่าง

ประเภทที่สองของ hr-icp-ms เครื่องมือยังสามารถใช้ได้ที่ใช้หลายเครื่องตรวจจับ–ประเภทนี้เรียกว่า มัลติ สะสม hr-icp-ms หรือ mc-icp-ms. เครื่องมือเหล่านี้โดยทั่วไปจะออกแบบและพัฒนาขึ้นเพื่อแสดงอัตราส่วนของไอโซโทปที่มีความแม่นยำสูง วิเคราะห์ข้อมูล เนื่องจากอาร์เรย์ของ 5-10 เครื่องตรวจจับสามารถวางรอบออกกรีดของคู่เน้นระบบไอโซโทปของธาตุเดียวสามารถโดยทั่วไปจะพิจารณาพร้อมกัน นำไปสู่เทคนิคปาด ข้อเสียของประเภทของระบบนี้คือ ว่า ไอโซโทปทั้งหมดต้องอยู่ในช่วงแคบ ( มวลชน± 15-20 % ของมวลน้อย ) เป็นการตั้งค่าภาคแม่เหล็กคงที่ ในขณะที่ภาคไฟฟ้าการตั้งค่าจะถูกสแกนนี้โดยทั่วไปหมายความว่าแต่ละธาตุไอโซโทประบบต้องสามารถวัดในการวิเคราะห์แยกต่างหาก อุปกรณ์ชนิดนี้โดยทั่วไปจะไม่เหมาะกับหลายขั้นตอนการวิเคราะห์ธาตุองค์ประกอบสำหรับรายใหญ่ และรายย่อย และโดยปกติจะใช้สำหรับการดำเนินการการวัดอัตราส่วนไอโซโทป .

เมื่อไอออนถูกแยกโดยมวลของค่าอัตราส่วนพวกเขาจะต้องถูกตรวจพบ หรือ นับโดยเครื่องที่เหมาะสม วัตถุประสงค์พื้นฐานของเครื่องคือการแปลจำนวนไอออนที่โดดเด่นตรวจจับเป็นสัญญาณไฟฟ้าที่สามารถวัดได้ และมีความสัมพันธ์กับจำนวนอะตอมของธาตุในตัวอย่างที่ผ่านการใช้มาตรฐานการสอบเทียบเครื่องตรวจจับแรงดันไฟฟ้าสูง ส่วนใหญ่ใช้ลบบนพื้นผิวด้านหน้าของเครื่องตรวจจับเพื่อดึงดูดประจุบวกประจุเพื่อตรวจจับ เมื่อไอออนฮิตพื้นผิวที่ใช้งานของเครื่องตรวจจับจำนวนของอิเล็กตรอนจะถูกปล่อยออกแล้วตีต่อไป ซึ่งพื้นผิวของเครื่องขยายสัญญาณ ในช่วงหลายปีที่ผ่านมา อิเล็กตรอน ช่องคูณ ( CEM )ซึ่งถูกใช้ในก่อนหน้านี้ ICP-MS เครื่องมือ ได้ถูกแทนที่ด้วยเครื่องตรวจจับปฏิพากย์ชนิดไม่ต่อเนื่อง ( ดูรูปที่ 6 ) เครื่องตรวจจับปฏิพากย์ไม่ต่อเนื่องโดยทั่วไปมีช่วงกว้างเชิงเส้นแบบไดนามิกมากกว่าซีอีเอ็มเอส ซึ่งเป็นสิ่งสำคัญใน ICP-MS เป็นปริมาณข้อมูลอาจแตกต่างจากซับ ppt เพื่อความเข้มข้นสูง ปฏิพากย์ชนิดไม่ต่อเนื่อง

เครื่องยังสามารถทำงานในสองโหมดชีพจรนับและอนาลอคซึ่งต่อขยายช่วงของอุปกรณ์เชิงเส้นและสามารถใช้ปกป้องเครื่องตรวจจับจากสัญญาณสูงมากเกินไป