The crystallographic structure of t

The crystallographic structure of the films was analyzed using Cu Ka radiation
with a Rigaku X-ray diffractometer. The elemental/phase composition analysis of these films was evaluated using a Leybold MAX200 X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
system.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างของภาพยนตร์ crystallographic ถูกวิเคราะห์โดยใช้รังสี Cu Kaกับ diffractometer Rigaku เอกซเรย์ การวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุ/ขั้นตอนของภาพยนตร์เหล่านี้ได้ถูกประเมินโดยใช้แบบ Leybold MAX200 เอ็กซ์เรย์ Photoelectron ก (XPS)ระบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างผลึกของภาพยนตร์ที่ได้รับการวิเคราะห์โดยใช้รังสี Cu กา
กับของ Rigaku X-ray มาตรการเลี้ยวเบน ธาตุ / ขั้นตอนการวิเคราะห์องค์ประกอบของภาพยนตร์เหล่านี้ได้รับการประเมินโดยใช้ Leybold Max200 X-ray จากแสงสเปก (XPS)
ระบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างทางของฟิล์มโดยใช้ทองแดง กะ รังสี
ด้วยเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ rigaku . ธาตุ / การวิเคราะห์องค์ประกอบของภาพยนตร์เหล่านี้จะถูกประเมินโดยใช้ max200 X-ray photoelectron spectroscopy จำหน่าย ( XPS )
2