A STM/AFM (Omicron, Germany) system

A STM/AFM (Omicron, Germany) system was used in UHV
(7 · 1011 Torr) to analyze the SS sheet both before and after
the CNT growth, to investigate down to the nanometric scale
the substrate surface roughness. The measurements were
performed at room temperature in constant current mode
with I = 0.3 nA, VSample = 700 mV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ใช้ระบบ AFM อิ (โอไมครอน เยอรมนี) ใน UHV(7 · 10 11 ธอร์) การวิเคราะห์แผ่น SS ทั้งก่อน และหลังบริษัทเจริญเติบโต การตรวจสอบลงไปขนาด nanometricที่พื้นผิวพื้นผิวความหยาบ มีการประเมินอุณหภูมิห้องในโหมดคงปัจจุบันกับฉัน = 0.3 นา VSample = 700 mV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

STM / AFM (ไมครอน, เยอรมนี) ระบบที่ใช้ในการ UHV
(7 · 10? 11 Torr) ในการวิเคราะห์แผ่นเอสเอสทั้งก่อนและหลัง
การเจริญเติบโตของ CNT, การตรวจสอบลงไปที่ระดับ nanometric
พื้นผิวพื้นผิวที่ขรุขระ วัดได้รับการ
ดำเนินการที่อุณหภูมิห้องในโหมดกระแสคงที่
กับ I = 0.3 nA, VSample = 700 mV

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เป็น STM / AFM ( ไมครอน , เยอรมนี ) ระบบที่ใช้ใน uhv
( 7 ด้วย 10  11 ทอร์ ) วิเคราะห์แผ่น SS ทั้งก่อนและหลัง
CNT การเจริญเติบโต ศึกษาลงไปขนาด nanometric
พื้นผิวความหยาบกร้านของผิว วัดเป็นเนินที่อุณหภูมิคงที่

ด้วยโหมดกระแส = 0.3 นา vsample = 700 MV .