X-ray fluorescence (XRF) spectrosco

X-ray fluorescence (XRF) spectroscopy is a powerful method to investigate the elemental chemical state in unknown
compounds and the electronic structure of materials. It is well known that the X-ray spectra are sensitive to the chemical states of
the emitting atoms and are of great use for studying the atomic and electronic structure in materials. It is demonstrated that the
chemical state of relevant element in an unknown material can be analyzed by the use of the chemical shift.
Besides the determination of elemental concentrations, analytical techniques based on the observation of the sample X-ray
emission can also be efficiently used for the chemical speciation of elements in the sample. In such chemical speciation
measurements, the use of high energy-resolution instruments like crystal spectrometers is, however, mandatory. Chemical
speciation can be based on the measurements of the changes in the integrated intensity of different satellite lines relative to the
diagram line as it has been done recently for several manganese compounds .( Sakurai K., Eba H., 2003) In this case a middle
energy resolution (around 10 eV) is sufficient. Another method is to determine the chemical shifts of the characteristic X-Ray
emission lines and the changes of their lineshapes but in this case a higher energy resolution (below 1 eV) is required. Gohshi
and co-workers (Gohshi Y., Ohtsuka A., 1973; Gohshi Y., Hirao O., Suzuk I., 1975) were the first to report quantitative
chemical state analysis of S, Cr and Sn based on the energy shifts of the characteristic X-Ray emission lines. Kav

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ก fluorescence (XRF) เอ็กซ์เรย์เป็นวิธีมีประสิทธิภาพการตรวจสอบสถานะทางเคมีธาตุในไม่รู้จักสารประกอบและโครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์ของวัสดุ เป็นที่รู้จักว่า แรมสเป็คตราเอกซเรย์มีความไวต่อสารเคมีสถานะของemitting อะตอมและมีการใช้มากสำหรับการศึกษาโครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์ และอะตอมในวัสดุ มันจะแสดงที่เคมีสถานะขององค์ประกอบที่เกี่ยวข้องในวัสดุไม่รู้จักสามารถนำมาวิเคราะห์ โดยใช้กะเคมีนอกจากเรื่องของความเข้มข้นธาตุ เทคนิควิเคราะห์ตามเก็บข้อมูลของตัวอย่างเอ็กซ์เรย์ปล่อยก๊าซยังมีประสิทธิภาพใช้สำหรับการเกิดสปีชีส์ใหม่เคมีขององค์ประกอบในตัวอย่าง ในการเกิดสปีชีส์ใหม่เช่นเคมีวัด การใช้เครื่องมือพลังงานความละเอียดสูงเช่นตรวจคริสตัลเป็น อย่างไรก็ตาม ข้อบังคับ สารเคมีเกิดสปีชีส์ใหม่สามารถขึ้นอยู่กับขนาดของการเปลี่ยนแปลงความเข้มรวมรายการดาวเทียมต่าง ๆ สัมพันธ์กับการไดอะแกรมบรรทัดที่แล้วล่าสุดสำหรับสารประกอบแมงกานีสหลาย (ซะกุไรคุณ Eba H., 2003) ในกรณีนี้เป็นกลางความละเอียดของพลังงาน (ประมาณ 10 eV) เพียงพอ วิธีหนึ่งคือการ กำหนดกะเคมีของลักษณะเอ็กซ์เรย์รายการมลพิษและการเปลี่ยนแปลง ของ lineshapes ของพวกเขา แต่ ในกรณีนี้ความละเอียดของพลังงานสูงกว่า (ต่ำกว่า 1 eV) จะต้อง Gohshiและเพื่อนร่วมงาน (Gohshi Y., A. Ohtsuka, 1973 Gohshi Y. โอ Hirao, Suzuk I., 1975) ได้ก่อนรายงานเชิงปริมาณวิเคราะห์เคมีสถานะของ S, Cr และ Sn ตามพลังงานกะมลพิษบรรทัดลักษณะการเอ็กซ์เรย์ Kav