CharacterizationThe bulk densities

Characterization

The bulk densities of the sintered samples were measured by the Archimedes method. The phase compositions were identified by X-ray diffraction (XRD) using Cu Kα radiation (DX-1000 CSC). Microstructure observation was conducted by using scanning electron microscopy (SEM, FEI Inspect F). The dielectric characteristics at microwave frequencies (4.726–4.953 GHz) were measured by the Hakki–Coleman dielectric resonator method in the TE011 mode using a network analyzer(HP83752A) [14]. The sintered samples used for this measurement had the ratio: diameter:height = 1.9–2.3. The τf values were determined from the difference between the resonant frequencies obtained at 25 °C and 80 °C.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จำแนกลักษณะความหนาแน่นเป็นกลุ่มตัวอย่างที่เผาที่วัด โดยวิธีการคิ องค์ประกอบขั้นตอนระบุไว้ โดยการเลี้ยวเบน X-ray (XRD) ใช้รังสี Cu Kα (CSC DX 1000) ตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคดำเนินการ โดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM เฟยตรวจสอบ F) ลักษณะเป็นฉนวนที่ความถี่ไมโครเวฟ (4.726 – 4.953 GHz) ถูกวัด โดยวิธีอิเล็กทริก resonator Hakki – Coleman ในโหมด TE011 ที่ใช้ในเครือข่าย analyzer(HP83752A) [14] ตัวอย่างเผาที่ใช้สำหรับการวัดนี้มีอัตราส่วน: เส้นผ่านศูนย์กลาง: ความสูง = 1.9-2.3 กำหนดค่า τf จากความแตกต่างระหว่างความถี่เรโซแนนซ์ที่ 25 ° C ถึง 80 ° c

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวละครความหนาแน่นเป็นกลุ่มของสารตัวอย่างถูกวัดโดยวิธี Archimedes องค์ประกอบขั้นตอนที่ถูกระบุโดย X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) โดยใช้รังสี Cu Kα (DX-1000 CSC) สังเกตจุลภาคได้ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM เฟตรวจสอบ F) ลักษณะอิเล็กทริกที่ความถี่ไมโครเวฟ (4.726-4.953 GHz) ถูกวัดโดย Hakki-โคลแมนวิธีอิเล็กทริกไอเสียในโหมด TE011 โดยใช้การวิเคราะห์เครือข่าย (HP83752A) [14] กลุ่มตัวอย่างที่ใช้ในการเผาวัดนี้มีอัตราส่วน: เส้นผ่านศูนย์กลาง: height = 1.9-2.3 ค่าτfได้รับการพิจารณาจากความแตกต่างระหว่างความถี่ได้ที่ 25 องศาเซลเซียสและ 80 องศาเซลเซียส