XRD for phase detection was conduct

XRD for phase detection was conducted using a Siemens D500 diffractometer (Bragg–Brentano parafocusing geometry and vertical h–h goniometer). The angular 2h diffraction range was 5–70°. The crystalline size was determined from the line broadening of the diffraction line at 2h = 36.8° using the Scherrer equation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

XRD สำหรับตรวจจับระยะได้ดำเนินการใช้ diffractometer D500 ซีเมนส์ (Bragg-Brentano parafocusing เรขาคณิตและแนวตั้ง h – h goniometer) ช่วงการเลี้ยวเบนแองกูลาร์ 2h 5-70 องศาได้ ขนาดผลึกที่ถูกกำหนดจาก broadening บรรทัดของบรรทัดการเลี้ยวเบนที่ 2 h = 36.8 °ใช้สมการ Scherrer

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

XRD สำหรับขั้นตอนการตรวจสอบได้รับการดำเนินการโดยใช้มาตรการเลี้ยวเบนซีเมนส์ D500 (แบร็ก-Brentano เรขาคณิต parafocusing และแนวตั้งชั่วโมงชั่วโมง goniometer) ช่วงการเลี้ยวเบน 2H เชิงมุมเป็น 5-70 ° ขนาดผลึกถูกกำหนดจากการขยายสายของสายการเลี้ยวเบนที่ 2H = 36.8 °โดยใช้สมการ Scherrer

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตรวจเพื่อตรวจหาระยะทดลองใช้ D500 ซีเมนส์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( เบรก–โน parafocusing เรขาคณิตและแนวตั้ง H - H ถุงมือ ) ช่วง 2H การเลี้ยวเบนเชิงมุม 5 – 70 องศา . ขนาดผลึกที่ถูกกำหนดจากบรรทัดใหม่ของเส้นการเลี้ยวเบนที่ 2h = 36.8 องศาใช้เชเรอร์สมการ