The reactor conditions are characte

The reactor conditions are characterised with use of optical emission spectroscopy (OES) and Langmuir probe measurements. The OES data confirms the relative concentrations of radical fluorine within the plasma, whilst the Langmuir probe is used to determine the ion current density, hence relating to the ion bombardment factors taking place on the bucky paper surface.

Transmission electron microscope (TEM) images of the SWNTs are also taken to test the structural integrity of the SWNTs after plasma exposure. For the TEM images, 2 mg of SWNT bucky paper were suspended in 2 ml of IPA and a drop of the solution was then suspended onto 300 μm carbon grids.
e XPS equipment.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สภาพเครื่องปฏิกรณ์มีประสบการ์กับใช้ Langmuir โพรบวัดมลพิษปติก (วิจัย) ข้อมูลวิจัยยืนยันความเข้มข้นที่ญาติของฟลูออรีนรุนแรงภายในพลาสมา ในขณะที่โพรบ Langmuir จะใช้เพื่อกำหนดความหนาแน่นปัจจุบันไอออน ดังนั้น เกี่ยวข้องกับปัจจัยระดมยิงไอออนที่มีตำแหน่งบนพื้นผิวของกระดาษ buckyส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ยการ) ภาพของ SWNTs มียังมีนำไปทดสอบความสมบูรณ์ของโครงสร้างของ SWNTs ที่หลังแสงพลาสม่า สำหรับภาพยการ 2 มก. SWNT bucky กระดาษถูกหยุดชั่วคราวใน 2 ml ของ IPA แล้วถูกระงับวางโซลูชันบนกริดคาร์บอน μm 300อีอุปกรณ์ XPS

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เงื่อนไขปฏิกรณ์มีความโดดเด่นด้วยการใช้สเปคโทรการปล่อยแสง (OES) และ Langmuir วัดสอบสวน ข้อมูล OES ยืนยันความเข้มข้นของญาติของฟลูออรีนที่รุนแรงภายในพลาสม่าในขณะที่การสอบสวน Langmuir จะใช้ในการตรวจสอบไอออนความหนาแน่นกระแสจึงเกี่ยวข้องกับปัจจัยการโจมตีไอออนที่เกิดขึ้นบนพื้นผิวกระดาษบัคกี้. ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ภาพของ SWNTs ยังนำในการทดสอบความสมบูรณ์ของโครงสร้างของ SWNTs หลังจากการเปิดรับพลาสม่า สำหรับภาพ TEM 2 มิลลิกรัม SWNT กระดาษบัคกี้ถูกระงับใน 2 มิลลิลิตร IPA และการลดลงของการแก้ปัญหาถูกระงับแล้ว 300 ไมโครเมตรบนกริดคาร์บอน. จอุปกรณ์ XPS

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สภาพเครื่องมีลักษณะของการใช้แสงสเปกโทรสโกปี ( OES ) และ Langmuir Probe วัด การแบ่งปันข้อมูลยืนยันสัมพันธ์ปริมาณฟลูออรีนหัวรุนแรงในพลาสมาในขณะที่การสอบสวน ขนาดใช้ตรวจสอบความหนาแน่นกระแสไอออนจึงเกี่ยวข้องกับไอออนโจมตีปัจจัยที่เกิดขึ้นบนพื้นผิวกระดาษ

บัคกี้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ( TEM ) ภาพจาก swnts ยังถ่ายเพื่อทดสอบความสมบูรณ์ของโครงสร้างของ swnts หลังจากแสงพลาสม่า สำหรับแบบภาพ 2 มิลลิกรัมของกระดาษลงไป swnt หยุดชั่วคราวใน 2 ml ของ IPA และหยดของสารละลายแล้วระงับลง 300 μ M ตะแกรงคาร์บอน อุปกรณ์
E XPS .