Figure 10 shows a schematic represe

Figure 10 shows a schematic representation of current generated by electrons crossing the gap from the cathode to the anode. The current increases until a time Te and decreases afterwards. The rise is due to increasing arrival of electrons at the anode. The steep drop at Te is due to the arrival of the head of the electron avalanche at the anode. After time Te, the electron current does not drop to zero and a decreasing ramp is present until a time T. The decreasing ramp is caused by electrons that arrive after the avalanche head. These delayed electrons are those that have been detached from unstable ions in the gap. Due to the time required for detachment, their arrival at the anode is later than that of the free electrons. This secondary ramp is referred to in the literature as an after-current [9]. With increasing humidity a reduction in the after-current has been reported. This is caused by a decreased number of electrons that have detached in the gap [9]. The reduction in the number of detached electrons is attributed to conversion reactions that have incorporated these electrons into non-detaching ions. The electron detachment processes are independent of the electric field. The amount of conversion reactions on the other hand, is a function of the partial pressure of water vapor. The times involved in detachment and conversion processes are different, with the detachment time being virtually constant. Conversion reaction times are a function of humidity and are shortened substantially for humid air when compared to the value at less than 1% RH [9]. It has been reported that at humidity level of 65% RH at 20°C, the number of free electrons and unstable negative ions are reduced by a factor of 5.8 and 2.7, respectively, when

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปที่ 10 แสดงแผนผังของเว็บปัจจุบันที่สร้างขึ้น โดยอิเล็กตรอนที่ข้ามช่องว่างจากแคโทดไปยังขั้วบวก ปัจจุบันเพิ่มจนถึงเวลา Te และลดลงหลังจากนั้น เพิ่มขึ้นจากการเพิ่มขึ้นมาของอิเล็กตรอนที่ขั้วบวกได้ ชันหล่นที่เต้มีเนื่องจากการมาถึงของหัวถล่มอิเล็กตรอนที่ขั้วบวก หลังจากเวลาที่ Te ปล่อยอิเล็กตรอนปัจจุบันเป็นศูนย์ และมีทางลาดลดลงจนถึงเวลาที ทางลาดที่ลดลงเกิดจากอิเล็กตรอนที่มาถึงหลังหัวหิมะถล่ม อิเล็กตรอนเหล่านี้ล่าช้าเป็นผู้ที่มีถูกแยกออกจากไอออนที่เสถียรในช่องว่าง เนื่องจากเวลาที่ใช้สำหรับเลื่อนหลุด เดินทางมาถึงที่ขั้วบวกเป็นหลังที่อิเล็กตรอนฟรี ทางลาดรองนี้ถูกอ้างถึงในวรรณคดีเป็นการหลังปัจจุบัน [9] ด้วยการเพิ่มความชื้น ในปัจจุบันหลังมีการรายงาน ซึ่งมีสาเหตุจากตัวเลขที่ลดลงของอิเล็กตรอนที่มีบ้านเดี่ยวในช่องว่าง [9] การลดจำนวนของอิเล็กตรอนเดี่ยวคือประกอบแปลงปฏิกิริยาที่ได้รวมเหล่าอิเล็กตรอนเป็นประจุที่ไม่แยก กระบวนการเลื่อนหลุดของอิเล็กตรอนจะเป็นอิสระจากสนามไฟฟ้า จำนวนแปลงปฏิกิริยาบนมืออื่น ๆ เป็นฟังก์ชันความดันบางส่วนของไอน้ำ เวลาเกี่ยวข้องในกระบวนการเลื่อนหลุดและการแปลงจะแตกต่างกัน เวลาปลดได้จริงคง เวลาปฏิกิริยาแปลงเป็นฟังก์ชันของความชื้น และจะสั้นมากอากาศชื้นเมื่อเปรียบเทียบกับค่าที่น้อยกว่า 1% RH [9] มีรายงานว่า ที่ระดับความชื้น 65% RH ที่ 20° C จำนวนฟรีอิเล็กตรอนและประจุไฟฟ้าลบที่ไม่เสถียรจะลดลง โดยปัจจัย 5.8 และ 2.7 ตามลำดับ เมื่อ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 10 แสดงให้เห็นถึงการแสดงแผนผังของปัจจุบันที่สร้างขึ้นโดยอิเล็กตรอนข้ามช่องว่างจากขั้วลบไปยังขั้วบวก เพิ่มขึ้นจนถึงปัจจุบันเวลา Te และลดลงหลังจากนั้น ที่เพิ่มขึ้นเป็นผลมาจากการเดินทางมาถึงที่เพิ่มขึ้นของอิเล็กตรอนที่ขั้วบวก ที่ลดลงสูงชันที่ Te เป็นเพราะการมาถึงของหัวของหิมะถล่มอิเล็กตรอนที่ขั้วบวกที่ หลังจากที่เวลา Te อิเล็กตรอนในปัจจุบันไม่ได้ลดลงไปอยู่ที่ศูนย์และทางลาดลดลงเป็นปัจจุบันจนกระทั่ง T. เวลาลาดลดลงมีสาเหตุมาจากอิเล็กตรอนที่เดินทางมาถึงหลังหัวหิมะถล่ม อิเล็กตรอนล่าช้าเหล่านี้เป็นผู้ที่ได้รับออกจากไอออนไม่แน่นอนในช่องว่าง เนื่องจากเวลาที่จำเป็นสำหรับการปลดการมาถึงของพวกเขาที่ขั้วบวกช้ากว่าที่ของอิเล็กตรอนอิสระ นี้ทางลาดรองถูกอ้างถึงในวรรณคดีเป็นหลังปัจจุบัน [9] ด้วยการเพิ่มความชื้นลดลงในหลังปัจจุบันได้รับรายงาน นี้เกิดจากจำนวนที่ลดลงของอิเล็กตรอนที่มีแฝดในช่องว่าง [9] การลดลงของจำนวนอิเล็กตรอนเดี่ยวมีสาเหตุมาจากปฏิกิริยาการแปลงที่ได้รวมอิเล็กตรอนเหล่านี้เป็นไอออนที่ไม่ใช่การพลัดพราก กระบวนการอิเล็กตรอนออกเป็นอิสระของสนามไฟฟ้า จำนวนของการเกิดปฏิกิริยาการแปลงบนมืออื่น ๆ ที่เป็นฟังก์ชั่นของความดันบางส่วนของไอน้ำ ครั้งที่เกี่ยวข้องในการออกและการแปลงกระบวนการจะแตกต่างกันด้วยเวลาออกเป็นจริงอย่างต่อเนื่อง ปฏิกิริยาครั้งการแปลงมีฟังก์ชั่นของความชื้นและกำลังสั้นลงอย่างมีนัยสำคัญสำหรับอากาศชื้นเมื่อเทียบกับค่าที่น้อยกว่า 1% RH [9] มันได้รับรายงานว่าที่ระดับความชื้น 65% RH ที่ 20 ° C จำนวนอิเล็กตรอนอิสระและไอออนลบที่ไม่เสถียรจะลดลงโดยปัจจัยที่ 5.8 และ 2.7 ตามลำดับเมื่อ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 10 แสดงแผนผังการเป็นตัวแทนในปัจจุบันสร้างขึ้นโดยอิเล็กตรอนข้ามช่องว่างจากขั้วลบไปขั้วบวก ปัจจุบันเพิ่มขึ้นจนกว่าจะถึงเวลาที่เต้และลดลงหลังจากนั้น เพิ่มขึ้นเนื่องจากการเพิ่มเข้ามาของอิเล็กตรอนที่ขั้วบวก การลดลงที่สูงชันที่ทีเนื่องจากการมาถึงของหัวของอิเล็กตรอนหิมะถล่มที่ขั้วบวก หลังจากเทเวลา กระแสอิเล็กตรอนไม่ลดลงถึงศูนย์และลดทางลาดอยู่จนกว่าจะถึงเวลาที่ ต. ลาดลดลงเกิดจากอิเล็กตรอนที่มาถึงหลังหัวหิมะถล่ม เหล่านี้ล่าช้าอิเล็กตรอนที่ถูกแยกออกจากเสถียรไอออนในช่องว่าง เนื่องจากเวลาที่จำเป็นสำหรับการปลด การมาของพวกเขาที่ขั้วบวกจะช้ากว่าที่ของอิเล็กตรอนอิสระ ทางลาดนี้รองอ้างถึงในวรรณคดีเป็นหลังจากปัจจุบัน [ 9 ] กับการเพิ่มความชื้นลดหลังปัจจุบันมีรายงาน นี้เกิดจากการลดจำนวนของอิเล็กตรอนที่หลุดในช่องว่าง [ 9 ] การลดจำนวนของอิเล็กตรอนที่หลุดจากปฏิกิริยาของการแปลงที่มีรวมอิเล็กตรอนเหล่านี้เป็นไม่ถอดเครื่องไอออน อิเล็กตรอนอิสระ ไม่สนใจกระบวนการของสนามไฟฟ้า ปริมาณของการเปลี่ยนแปลงปฏิกิริยาบนมืออื่น ๆที่เป็นฟังก์ชันของความดันย่อยของไอน้ำ เวลาที่เกี่ยวข้องในกระบวนการการปลดและการแปลงจะแตกต่างกันกับตอนนี้แทบไม่สนใจคง การแปลงปฏิกิริยาครั้งเป็นฟังก์ชันของความชื้นและอากาศชื้นที่สั้นมากเมื่อเทียบกับมูลค่าที่น้อยกว่า 1 เปอร์เซ็นต์ [ 9 ] มันได้รับรายงานว่าในระดับความชื้นสัมพัทธ์ 65 เปอร์เซ็นต์ที่อุณหภูมิ 20 ° C จำนวนอิเล็กตรอนอิสระและประจุลบที่ไม่เสถียรจะลดลงโดยปัจจัยที่ 5.8 และ 2.7 ตามลำดับ เมื่อ