X-ray diffraction rocking curve met

X-ray diffraction rocking curve method was used to determine the texture degree of the thin films and it showed
that annealed thin films do not exhibit a preferential orientation of crystals.
The stress of as-grown thin films was found to be independent on
the thin film thickness,

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เอ็กซเรย์กระจายโยกวิธีโค้งใช้ในการกำหนดระดับพื้นผิวของฟิล์มบาง และแสดงให้เห็นว่า ฟิล์มบางที่อบมีแนวเป็นสิทธิพิเศษของผลึกพบว่าความเครียดโตเป็นแผ่นฟิล์มบางเป็นอิสระในความหนาฟิล์มบาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray เลนส์โยกวิธีโค้งถูกใช้ในการตรวจสอบการศึกษาระดับปริญญาพื้นผิวของฟิล์มบางและมันแสดงให้เห็น
ว่าฟิล์มบางอบไม่แสดงปฐมนิเทศพิเศษของผลึก.
ความเครียดของภาพยนตร์บางเป็นที่ปลูกก็จะพบว่ามีความเป็นอิสระใน
บาง ความหนาของฟิล์ม,

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์วิธีโค้งโยกศึกษาระดับพื้นผิวของฟิล์มบางและมันแสดงให้เห็นว่าอบฟิล์มที่ไม่แสดงลักษณะพิเศษของผลึกความเครียดของการปลูกฟิล์มบางเป็นอิสระพบว่าความหนาของฟิล์มบาง