A custom-built manipulation device

A custom-built manipulation device integrated in a high resolution scanning electron microscope was used [13]
to stress single submicron particles. A photographic image of the device is shown in Fig. 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การจัดการอุปกรณ์ที่สร้างขึ้นเองรวมอยู่ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนความละเอียดสูงที่ใช้ [13]
จะเน้นอนุภาค submicron เดียว ภาพของอุปกรณ์การถ่ายภาพที่มีการแสดงในรูป 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เป็นอุปกรณ์ในการจัดการสินค้าแบบบูรณาการความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ใช้ [ 13 ]
ความเครียดเปลี่ยนแปลงอนุภาคเดี่ยว รูปภาพภาพถ่ายของอุปกรณ์ที่แสดงไว้ในรูปที่ 1