The microscopic residual stress and

The microscopic residual stress and information related to the degree of cold working can be obtained simultaneously by XRD methods.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความเค้นตกค้างด้วยกล้องจุลทรรศน์และข้อมูลที่เกี่ยวข้องกับระดับของการทำงานเย็นจะได้พร้อมกัน โดยวิธี XRD

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความเค้นตกค้างกล้องจุลทรรศน์และข้อมูลที่เกี่ยวข้องกับระดับของการทำงานที่เย็นสามารถรับได้พร้อมกันโดยวิธีการ XRD

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ส่วนทางความเค้นที่ตกค้าง และข้อมูลที่เกี่ยวข้องกับระดับของความเย็นทำงานได้พร้อมกันโดยวิธี XRD .