The surface of the prepared samples

The surface of the prepared samples was investigated using scanning electron microscopy fitted with energy dispersive X-ray (EDX) for elemental analysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พื้นผิวของตัวอย่างพร้อมถูกตรวจสอบโดยใช้การสแกน microscopy ของอิเล็กตรอนที่มีพลังงาน dispersive เอกซเรย์ (เรื่อง) สำหรับการวิเคราะห์ธาตุ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นผิวของตัวอย่างที่เตรียมไว้ถูกตรวจสอบโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดพอดีกับพลังงานกระจาย X-ray (EDX) สำหรับการวิเคราะห์ธาตุ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิวของตัวอย่างที่เตรียมไว้ศึกษาด้วยกล้องจุลทรรศน์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนติดตั้งกับรังสีเอกซ์พลังงานกระจายตัว ( การวัด ) สำหรับการวิเคราะห์ธาตุ