Fig. 3(a)e(f) show plane-view TEM i

Fig. 3(a)e(f) show plane-view TEM images of the as-deposited
film and samples annealed at various temperatures. In Fig. 3(a),
the as-deposited FePt with fcc phase had an average grain size of
about 11.5 nm. After an annealing at 450
C, no distinct microstructural
variation was observed, as shown in Fig. 3 (b). With
increasing Ta to 500
C, the film started L10 ordered, but exhibited a
reduced grain size of about 5 nm(Fig. 3(c)). The reason for this grain
size reduction might be due to the nucleation of L10 phases, as
indicated by Fig. 3(d) where the weak spots represents the (001)L10 ordering domains with an average size of about 3 nmusing dark
field technique. With increasing Ta to 650
C, the sample was in the
fully ordered state with a coarsening average grain size of about
8 nm(Fig. 3(e) and (f)). When Ta was raised to 700
C, the average
grain of the film with PMA barely increases to about 9 nm
(Fig. 3(g)). For the films with the highest Ta, an extensive grain
growth with an average grain size of about 25 nmwas observed for
the FePt with perfect PMA, as shown in Fig. 3(h).
The dependence of in-plane residual stress (s) onTa is illustrated
in Fig. 4. For the as-deposited film, s was in tensile direction with a
magnitude of 0.93 GPa and almost remained for the sample after a
annealing of Ta ¼ 450
C, since no significant microstructural and
grain size alterations were observed. A minimum value of s was
found for the sample annealed at 500
C, which presumably results
from the nucleation of L10 ordering. The L10 ordering leads to a
volumetric expansion and atomic rearrangement [23,24], whichreleases the preformed tensile stress. A similar stress behavior was
also found in the FePt annealed using a conventional vacuum
furnace [17].With increasing Ta from 500 to 650
C, the s increases
from 0.73 to 1.65 GPa, while the average grain size increased from
about 5 to 8 nm, as shown in the inset of

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3(a)e(f) รูปแสดงเครื่องบินดูภาพเต็มของการเป็นฝากภาพยนตร์และตัวอย่างที่อบที่อุณหภูมิต่าง ๆ ในรูปพัฒนาการFePt ฝากเป็นความ fcc ได้มีขนาดเมล็ดเฉลี่ยประมาณ 11.5 nm หลังจากการหลอมที่ C 450 ไม่แตกจุลภาคการเปลี่ยนแปลงถูกสังเกต ดังที่แสดงในรูป 3 (b) มีเพิ่มตา 500 c ฟิล์ม L10 เริ่มสั่ง แต่มีการจัดแสดงลดขนาดเกรนประมาณ 5 nm (รูป 3(c)) เหตุผลสำหรับลายนี้ลดขนาดอาจเป็นเนื่องจาก nucleation L10 ระยะโดย 3(d) รูปที่ที่อ่อนแอจุดแสดง L10 (001) สั่งซื้อโดเมนที่มีขนาดเฉลี่ยประมาณ 3 nmusing มืดเทคนิค ด้วยการเพิ่มตาถึง 650 C เป็นตัวอย่างในการทั้งสั่งสถานะขนาดเมล็ดเฉลี่ย coarsening เกี่ยวกับ8 nm (รูป 3(e) และ (f)) เมื่อขึ้นตา 700 c ค่าเฉลี่ยเกรนของฟิล์มกับ PMA แทบไม่เพิ่มขึ้นประมาณ 9 นาโนเมตร(รูป 3(g)) สำหรับฟิล์มกับ Ta สูง มีเมล็ดมากมายเติบโต ด้วยขนาดเมล็ดเฉลี่ยประมาณ 25 nmwas สังเกตเห็นFePt กับสารประกอบที่สมบูรณ์แบบ แสดงไว้ในรูป 3(h)แสดงให้เห็นการพึ่งพาของ onTa ความเครียดตกค้างในเครื่องบิน (s)ในรูป 4 สำหรับฟิล์มฝากเป็น s เป็นในทิศทางของแรงดึงด้วยการขนาดของ 0.93 GPa และเกือบเหลือสำหรับตัวอย่างหลังจากหลอมของตา ¼ 450 C ตั้งแต่ไม่สำคัญจุลภาค และเปลี่ยนแปลงขนาดของเมล็ดข้าวถูกสังเกต ค่าต่ำสุดของ sพบตัวอย่างที่อบที่ 500 C ซึ่งน่าจะส่งผลจาก nucleation สั่ง L10 L10 สั่งนำไปสู่การขยายตัวตามปริมาตรและปรับปรุงใหม่อะตอม [23,24], whichreleases ความเค้นแรงดึง preformed ลักษณะการทำงานความเครียดความคล้ายยัง พบได้ใน FePt อบใช้ดูดฝุ่นทั่วไปเตา [17] ตาที่เพิ่มขึ้นจาก 500 ถึง 650 C, s เพิ่มขึ้นจาก 0.73 ไป 1.65 GPa ในขณะที่ขนาดเมล็ดเฉลี่ยเพิ่มขึ้นจากประมาณ 5-8 nm ดังที่แสดงในแทรกของ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. 3 (ก) จ (ฉ) แสดงเครื่องบินมุมมองภาพ TEM
ของฝากเป็นภาพยนตร์และตัวอย่างอบที่อุณหภูมิต่างๆ ในรูป 3 (a)
FePt ตามที่ฝากไว้กับเฟส FCC
มีขนาดของเมล็ดข้าวเฉลี่ยประมาณ11.5 นาโนเมตร หลังจากการอบที่ 450 แล้ว? C
ไม่มีจุลภาคที่แตกต่างกันรูปแบบที่ได้รับการตั้งข้อสังเกตดังแสดงในรูปที่ 3 (ข) ด้วยการเพิ่มขึ้นตาถึง 500 องศาเซลเซียสฟิล์มเริ่ม L10 สั่ง แต่แสดงขนาดของเมล็ดข้าวที่ลดลงจากประมาณ5 นาโนเมตร (รูปที่. 3 (ค)) เหตุผลสำหรับข้าวนี้มีการลดขนาดอาจจะเนื่องมาจากนิวเคลียสของขั้นตอน L10 เช่นที่ระบุโดยรูป 3 (ง) ที่จุดที่อ่อนแอเป็นตัวแทนที่ (001) L10 โดเมนการสั่งซื้อที่มีขนาดเฉลี่ยประมาณ 3 nmusing เข้มเทคนิคสนาม ด้วยการเพิ่มตาถึง 650 องศาเซลเซียสตัวอย่างอยู่ในรัฐมีคำสั่งอย่างเต็มที่มีขนาดเม็ดหยาบเฉลี่ยประมาณ8 นาโนเมตร (รูปที่. 3 (จ) และ (ฉ)) เมื่อตาถูกยกขึ้นถึง 700 องศาเซลเซียสเฉลี่ยเม็ดฟิล์มกับPMA แทบจะเพิ่มขึ้นประมาณ 9 นาโนเมตร(รูปที่ 3. (ช)) สำหรับภาพยนตร์ที่มีตาที่สูงที่สุดเป็นเมล็ดพืชที่กว้างขวางการเจริญเติบโตที่มีขนาดของเมล็ดข้าวเฉลี่ยประมาณ 25 nmwas สังเกต FePt กับ PMA ที่สมบูรณ์แบบตามที่แสดงในรูป 3 (ซ). การพึ่งพาอาศัยในระนาบความเค้นตกค้าง (s) Onta จะแสดงในรูปที่ 4. สำหรับภาพยนตร์ตามที่ฝากก็คือแรงดึงในทิศทางที่มีขนาด0.93 GPa และเกือบจะยังคงเป็นตัวอย่างหลังจากที่หลอมตา¼ 450 องศาเซลเซียสเนื่องจากไม่มีจุลภาคที่สำคัญและเมล็ดข้าวที่มีการปรับเปลี่ยนขนาดถูกตั้งข้อสังเกต ค่าต่ำสุดของ s ได้พบตัวอย่างอบที่500 องศาเซลเซียสซึ่งน่าจะเป็นผลมาจากนิวเคลียสของL10 การสั่งซื้อ L10 สั่งซื้อนำไปสู่การขยายปริมาตรและปรับปรุงใหม่อะตอม[23,24] whichreleases ความเครียดแรงดึง preformed พฤติกรรมความเครียดที่คล้ายกันนอกจากนี้ยังพบใน FePt อบโดยใช้เครื่องดูดฝุ่นธรรมดาเตา[17] กีฬาทางน้ำที่เพิ่มขึ้นตา 500-650 องศาเซลเซียสเพิ่มขึ้น s 0.73-1.65 จีพีในขณะที่ขนาดของเมล็ดข้าวเฉลี่ยเพิ่มขึ้นจากประมาณ5-8 นาโนเมตรดังแสดงในภาพประกอบของ