Morphology of both surface and cros

Morphology of both surface and cross-section
of agar and agar/clay nanocomposite films without coating were
observed using a FE-SEM (S-4800, Hitachi Co., Ltd., Matsuda,
Japan) operated at Vacc = 1 kV and Ie = 10 μA. The 3- (3D) images
of the films were observed using an AFM

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปร่างพื้นผิวและระหว่างส่วนสิต agar และ agar/ดิน ฟิล์มเคลือบโดยไม่ต้องมีสังเกตใช้แบบ FE-SEM (S-4800 ฮิตาชิ Co., Ltd., Matsudaญี่ปุ่นดำเนินที่ Vacc = 1 kV และ Ie = 10 μA 3- (3D) รูปภาพภาพยนตร์ถูกสังเกตใช้ AFM การ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ทางสัณฐานวิทยาของพื้นผิวและข้ามส่วนของวุ้นและวุ้น / ดินเหนียวนาโนคอมโพสิตภาพยนตร์โดยไม่ต้องเคลือบถูกตั้งข้อสังเกตการใช้FE-SEM (S-4800 ฮิตาชิ จำกัด Matsuda, ญี่ปุ่น) ดำเนินการใน VACC = 1 กิโลโวลต์และเช่น = 10 ต 3 (3D) ภาพในภาพยนตร์ที่ถูกตั้งข้อสังเกตการใช้AFM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัณฐานวิทยาของพื้นผิวและลักษณะของวุ้นและวุ้น
/ ดินเหนียวนาโนคอมโพสิตภาพยนตร์โดยไม่เคลือบถูก
สังเกตโดยใช้ fe-sem ( s-4800 , ฮิตาชิ จำกัด ประเทศญี่ปุ่น มัตซึดะ ,
) ดำเนินการ vacc = 1 กิโลและ IE = 10 μก. 3 - ( 3 ) ภาพ
ของภาพยนตร์ที่พบใช้ AFM