The pattern shapes were examined us

The pattern shapes were examined using a
Hitachi S-4800 field-emission scanning electron microscope (SEM)
with an acceleration voltage of 15 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปร่างลวดลายที่ถูกตรวจสอบโดยใช้การฮิตาชิ S-4800 การปล่อยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)การเร่งแรงดันไฟฟ้า 15 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปร่างรูปแบบมีการตรวจสอบการใช้
Hitachi S-4800 ข้อมูลการปล่อยก๊าซกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
ที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่งความเร็ว 15 กิโลโวลต์