It is therefore useful to acquire more fine detail of the sample surface. The lateral deflection and error signal mode images (Fig. 2E and F, respectively) show a ripple structure with high and low bands across the surface analyzed
ดังนั้นจึงเป็นเรื่องที่มีประโยชน์ที่จะได้รับรายละเอียดเพิ่มเติมของพื้นผิวของตัวอย่าง ด้านข้างโก่งและข้อผิดพลาดของสัญญาณภาพโหมด (รูป. 2E และ F ตามลำดับ) แสดงโครงสร้างระลอกกับวงดนตรีที่สูงและต่ำบนพื้นผิวการวิเคราะห์