Fig. 2. Electron microscopy of D65/

Fig. 2. Electron microscopy of D65/35: (a) TEM image; (b) SEM image of the cryo-fracture surface; SEM images of the dichloromethane-etched surface: (c) etched
for 1 min; (d) etched for 3 min.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 2. กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของ D65 / 35 (ก) ภาพ TEM; (ข) ภาพ SEM ของพื้นผิวแช่-แตกหัก; ภาพ SEM ของพื้นผิวไดคลอโรมีเทนฝัง: (c)
แกะสลักเป็นเวลา1 นาที; (ง) การฝังเป็นเวลา 3 นาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของ D65 / 35 : ( ก ) ( ข ) แบบเต็มๆ ภาพ ภาพ ของ แช่แข็ง ผิวการแตกหัก ; SEM ภาพสิ่งแกะสลักพื้นผิว : ( c ) สลัก
1 นาที ; ( d ) การฝังนาน 3 นาที