An average diameter and morphology

An average diameter and morphology of the nanofibers were
observed by using scanning electron microscopy (SEM; S-4800,
Hitachi). More detailed microstructures were observed by transmission
electron microscopy (TEM; JEM-2100F, JEOL) under an accelerating
voltage of 120 kV. X-ray diffraction (XRD) analysis was
performed with a diffractive meter (D/Max-2500, Rigaku) using Cu
Kα radiation. Fourier transform infrared spectroscopy (FT-IR; Scimitar
1000, Varian) was utilized to identify organic functional groups within
the nanofibers. A surface area and a pore size distribution were also
evaluated from nitrogen sorption isotherms measured by an analyzer
(Tristar II, Micromeritics) at 77 K.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เส้นผ่าศูนย์กลางเฉลี่ยและสัณฐานวิทยาของ nanofibers
ถูกตั้งข้อสังเกตโดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM; s-4800, HITACHI
) จุลภาครายละเอียดเพิ่มเติมพบโดยการส่ง
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Tem; jem-2100f, JEOL) ภายใต้แรงดันไฟฟ้าเร่ง
จาก 120 กิโลโวลต์ x-เรย์เลนส์ (XRD) การวิเคราะห์ได้รับการดำเนินการกับ
เมตรการกระจาย (d/max-2500, Rigaku)​​ โดยใช้ลูกบาศ์ก
รังสีkαแปลงฟูริเยอินฟราเรด (ฟุต-ir; ดาบ
1000 varian) ถูกนำมาใช้เพื่อระบุกลุ่มทำงานอินทรีย์ภายใน
nanofibers พื้นที่ผิวและการกระจายขนาดรูขุมขนนั้นยังมีการประเมินผลจาก
isotherms การดูดซับไนโตรเจนวัดจากการวิเคราะห์
(ii ไตรสตาร์, Micromeritics) ที่ 77 k

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มีเส้นผ่าศูนย์กลางเฉลี่ยและสัณฐานวิทยาของ nanofibers ถูก
สังเกตโดย microscopy อิเล็กตรอนสแกน (SEM S-4800,
ฮิตาชิ) รายละเอียดเพิ่มเติม microstructures ถูกตรวจสอบ โดยส่ง
microscopy อิเล็กตรอน (ยการ JEM-2100F, JEOL) ภายใต้การเร่ง
แรง 120 kV เอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRD) วิเคราะห์ถูก
ทำกับวัด diffractive (D Max-2500, Rigaku) ใช้ Cu
Kα รังสี กอินฟราเรด (FT IR แปลงฟูรีเย Scimitar
1000 แล้วแต่กำหนด) ถูกใช้เพื่อระบุกลุ่ม functional อินทรีย์ภายใน
การ nanofibers พื้นที่ผิวและการกระจายขนาดของรูขุมขนก็ยัง
จับไนโตรเจนดูด isotherms วัด โดยวิเคราะห์การ
(II ไทรสตาร์ อนุภาคศาสตร์) ที่คุณ 77

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และโดยเฉลี่ยที่เส้นผ่านศูนย์กลางของ nanofibers ได้
สังเกตได้โดยการใช้การตรวจวิเคราะห์สารเคมีอิเลคตรอนการสแกน(ความหมายอย่างไรต่อ S -4800
Hitachi ) มอง ภาพ ระยะใกล้ข้างหน้ารายละเอียดเพิ่มเติมก็พบว่าจากการส่ง
ซึ่งจะช่วยการตรวจวิเคราะห์สารเคมีอิเลคตรอน((ประธาน)ชั่วคราว JEM - 2100 F jeol ) ภายใต้ การเร่ง
แรงดันไฟฟ้าที่ 120 kv. X - ray พร่าเลือนของ( xrd )การวิเคราะห์เป็น
ซึ่งจะช่วยดำเนินการด้วยเมตร diffractive ( D / -2500 rigaku )โดยใช้รังสี
kα ชุดควบคุมฟุรเย - เปลี่ยนโฉมอินฟราเรด Emission Spectroscopy (ฟุต - อินฟราเรดเงื้อมดาบ
1000 varian )ได้ถูกใช้งานในการระบุกลุ่มงานประกอบรัฐธรรมนูญ ภายใน nanofibers
ซึ่งจะช่วยได้ พื้นที่ที่มีขนาดและการจัดจำหน่ายรูที่มี
โดยประเมินจาก sorption ไนโตรเจน isotherms วัดโดยเครื่องมือวิเคราะห์
( tristar II micromeritics )ที่ 77 K .