Results and discussionX-ray diffrac

Results and discussion
X-ray diffraction analysis was performed to study the effect of thermal treatment temperature and metal phase the concentration on the electroactivity. XRD pattern of the as-synthesized systems is typical for all gel products after air-drying (Figures 1, 2 and 3) and shows predominantly only amorphous structure. The XRD diffractogram measured for Pt/SnO2 samples presents reflections becoming more defined from the tetragonal crystallographic phase (cassiterite) of SnO2 after heating (temperatures from 373 K to 773 K). For higher temperatures, the diffraction peaks become progressively more intense and sharp. Miller indexes are indicated on each diffraction peak. The reflection peaks at ~26 (2theta)/{110}, ~33 (2theta)/{101} at ~51 (2theta)/{211}, at ~65 (2theta)/{301}, can be readily indexed to a tetragonal rutile structure of SnO2 (PDF 4+ Card File No. 04-003-5853).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผลและการสนทนาวิเคราะห์การเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบนที่ดำเนินการศึกษาผลของความร้อนรักษาอุณหภูมิและโลหะระยะเข้มข้นบน electroactivity XRD ระบบสังเคราะห์เป็นรูปแบบคือทั่วไปสำหรับผลิตภัณฑ์เจล air-drying (ตัวเลข 1, 2 และ 3) และแสดงเป็นโครงสร้างไปเท่านั้น Diffractogram XRD ที่วัดตัวอย่าง Pt/SnO2 แสดงสะท้อนเป็นกำหนดขึ้นจาก tetragonal crystallographic ระยะ (cassiterite) ของ SnO2 หลังจากความร้อน (อุณหภูมิจาก 373 K ที่ 773 K) สำหรับอุณหภูมิสูง ยอดการเลี้ยวเบนเป็นความก้าวหน้ามากขึ้นรุนแรง และคมชัด ดัชนีมิลเลอร์จะแสดงในแต่ละช่วงการเลี้ยวเบน พีคส์สะท้อนที่ ~ 26 (2theta) / { 110 }, ~ 33 (2theta) / { 101 } ที่ ~ 51 (2theta) / { 211 } ที่ ~ 65 (2theta) / { 301 } สามารถทำพร้อมดัชนีโครงสร้าง tetragonal rutile ของ SnO2 (PDF 4 + บัตรแฟ้มหมายเลข 04-003-5853)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

และการอภิปรายผลการ
X-ray การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนได้รับการดำเนินการเพื่อศึกษาผลของการรักษาอุณหภูมิความร้อนและเฟสโลหะเข้มข้นใน electroactivity รูปแบบ XRD ของระบบเป็นสังเคราะห์เป็นเรื่องปกติสำหรับทุกผลิตภัณฑ์เจลหลังจากที่อากาศแห้ง (รูปที่ 1, 2 และ 3) และแสดงให้เห็นเด่นเพียงโครงสร้างสัณฐาน XRD diffractogram วัดตัวอย่าง Pt / SnO2 นำเสนอภาพสะท้อนกลายเป็นกำหนดเพิ่มเติมจากเฟสผลึก tetragonal (ดีบุก) ของ SnO2 หลังจากให้ความร้อน (อุณหภูมิ 373 K เพื่อ 773 K) สำหรับอุณหภูมิที่สูงกว่ายอดการเลี้ยวเบนกลายเป็นความก้าวหน้าที่รุนแรงมากขึ้นและคมชัด ดัชนีมิลเลอร์ที่มีการระบุไว้ในแต่ละยอดการเลี้ยวเบน ยอดเขาที่สะท้อน ~ 26 (2theta) / {110} ~ 33 (2theta) / {101} ~ ที่ 51 (2theta) / {211} ~ ที่ 65 (2theta) / {301} สามารถจัดทำดัชนีพร้อมที่จะ โครงสร้าง rutile tetragonal ของ SnO2 (PDF 4+ บัตรไฟล์หมายเลข 04-003-5853)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

Results and discussion
X-ray diffraction analysis was performed to study the effect of thermal treatment temperature and metal phase the concentration on the electroactivity. XRD pattern of the as-synthesized systems is typical for all gel products after air-drying (Figures 1, 2 and 3) and shows predominantly only amorphous structure.การศึกษาเฟสทางวัด PT / SnO2 ตัวอย่างนำเสนอภาพสะท้อนเป็นกำหนดจากทางเฟสเตตระโกนอล ( สินค้าคงคลัง ) ของ SnO2 หลังจากความร้อน ( อุณหภูมิจาก 373 K แล้ว K ) สำหรับอุณหภูมิสูง โดยยอดค่อยๆเข้มและคมชัด มิลเลอร์ดัชนีจะแสดงในแต่ละเลนส์สูงสุดสะท้อนยอดเขาที่ ~ 26 ( 2theta ) / { 110 } , ~ 33 ( 2theta ) / { 1 } ~ 51 ( 2theta ) / { 11 } , ~ 65 ( 2theta ) / { 0 } , สามารถพร้อมดัชนีเพื่อโครงสร้างเตตระโกนอลของ SnO2 รูไทล์ ( PDF 4 บัตรไฟล์ไม่ 04-003-5853 ) .