On the basis of the Wenzel equation

On the basis of the Wenzel equation, the PFTS-functionalized dip-coated and convectively assembled nanoparticle films yielded roughness factors of 2.53 and 1.46 with respect to a PFTS film, respectively. Atomic force microscopy (AFM) height images can be used to determine the root-mean-square (rms) roughness of the nanoparticle films.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โดยใช้สมการ Wenzel ที่ PFTS-functionalized จุ่มเคลือบ และฟิล์ม nanoparticle convectively ประกอบผลปัจจัยความหยาบ 2.53 และ 1.46 กับภาพยนตร์ PFTS ตามลำดับ ภาพแรงอะตอม (AFM) microscopy สูงสามารถใช้เพื่อกำหนดความหยาบรากค่าเฉลี่ยสแควร์ (rms) ของฟิล์ม nanoparticle

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

บนพื้นฐานของการสมเวนเซล, PFTS-ฟังก์ชันจุ่มเคลือบและประกอบ convectively ภาพยนตร์อนุภาคนาโนผลปัจจัยความหยาบกร้านของ 2.53 และ 1.46 ส่วนที่เกี่ยวกับภาพยนตร์ PFTS ตามลำดับ กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) ภาพสูงสามารถใช้ในการกำหนดความหยาบรากกำลังสองเฉลี่ย (RMS) ของภาพยนตร์อนุภาคนาโน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

บนพื้นฐานของสมการเวนเซล , pfts จุ่มเคลือบอนุภาคนาโนที่มี convectively ประกอบภาพยนตร์ จากปัจจัยของความขรุขระ 2.53 และ 1.46 ส่วนฟิล์ม pfts ตามลำดับ กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) ภาพสูงสามารถใช้เพื่อตรวจสอบรากหมายความว่าสี่เหลี่ยมจัตุรัส ( RMS ) ความขรุขระของอนุภาคนาโนฟิล์ม