SEM observations were conducted on

SEM observations were conducted on a JEOL JSM-6500 field emission scanning electron microscope (SEM) under the secondary electrons image mode.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สังเกต SEM ได้ดำเนินบน JEOL JSM-6500 ปล่อยฟิลด์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ภายใต้โหมดภาพอิเล็กตรอนรอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สังเกต SEM ได้ดำเนินการใน JEOL JSM-6500 ข้อมูลการปล่อยก๊าซกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ภายใต้โหมดภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิ