the micrometer screw moves the part

the micrometer screw moves the part being measured to a position where the spherical probing head is touched by piezoelectric nano-positioning stage at the beginning of each experiment, and then the piezoelectric stage drives the moving part being controlled to scan at 5 nm step. Fig. 10 shows that a input/output characteristi ccurve and residual of fitting curve through axial approach and radial approach, respectively in the range of 1 m from touch point.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สกรูเกจย้ายส่วนการวัดไปที่ตำแหน่งที่ probing หัวกลมเป็นสัมผัส โดย piezoelectric นาโนตำแหน่งขั้นต้นของแต่ละการทดลอง แล้ว ระยะการ piezoelectric ไดรฟ์ในส่วนการควบคุมการสแกนในขั้นตอน 5 nm Fig. 10 แสดงที่แผง characteristi ccurve และส่วนที่เหลือจากของโค้งกระชับวิธีแกนและวิธีรัศมี ตามลำดับในช่วง 1 เมตรจากจุดสัมผัส

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สกรูไมโครเมตรย้ายส่วนหนึ่งที่มีการวัดไปยังตำแหน่งที่แหย่หัวทรงกลมสัมผัสตามขั้นตอนนาโนตำแหน่ง piezoelectric ที่จุดเริ่มต้นของการทดลองแต่ละและจากนั้นไดรฟ์เวที piezoelectric ส่วนที่ถูกควบคุมการเคลื่อนย้ายในการสแกนที่ขั้นตอนที่ 5 นาโนเมตร รูป 10 แสดงให้เห็นว่าอินพุต / เอาต์พุต characteristi ccurve และการตกค้างของเส้นโค้งผ่านวิธีการและแนวทางการแกนรัศมีตามลำดับในช่วง 1? เมตรจากจุดที่สัมผัส

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องวัดระยะทางกรูย้ายส่วนหนึ่งถูกวัดในตำแหน่งที่หัวเป็นทรงกลมการสัมผัสโดย piezoelectric นาโนตำแหน่งขั้นตอนที่จุดเริ่มต้นของแต่ละการทดลอง แล้วเวที piezoelectric ไดรฟ์ย้ายส่วนหนึ่งถูกควบคุมด้วยการสแกนที่ 5 nm ขั้น ภาพประกอบ10 แสดงให้เห็นว่ามีอินพุต / เอาต์พุต characteristi ลูกบาศก์และตกค้างของเส้นโค้งผ่านวิธีการและแนวรัศมีแกนแบบ ตามลำดับ ในช่วงของ M จากสัมผัสจุดที่ 1  .