It should be noted that several ele

It should be noted that several elements including S, Se, B, Si, P, Br, I, K, and Ca have
fairly high detection limits via ICP-MS. In the case of I and Br, this is due to the fact that
very few positive ions are formed in the ICP plasma for these elements. For elements
such as S, Se, P, K, and Ca, isobaric and molecular interferences from either the sample
matrix or plasma species interfere with the primary isotope. This means that less
abundant isotopes with less interference (if available) must be used for determination of
these elements, which will degrade detection capabilities for these elements.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ควรสังเกตว่า มีองค์ประกอบหลายอย่างรวม ทั้ง S, Se บี ซี P, Br ผม K, Caขีดจำกัดการตรวจสอบค่อนข้างสูงผ่าน ICP MS ในกรณีของผมและ Br นี่คือเนื่องจากความจริงที่ว่าไอออนบวกน้อยมากเกิดขึ้นในพลาสมา ICP สำหรับองค์ประกอบเหล่านี้ สำหรับองค์ประกอบเช่น S, Se, P, K และ Ca, isobaric และโมเลกุล interferences จากตัวอย่างเมทริกซ์หรือพลาสม่าพันธุ์รบกวนไอโซโทปหลัก ซึ่งหมายความ ว่า น้อยต้องใช้ไอโซโทปอุดมสมบูรณ์รบกวน (ถ้ามี) สำหรับการกำหนดองค์ประกอบเหล่านี้ ซึ่งจะลดความสามารถในการตรวจจับองค์ประกอบเหล่านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มันควรจะตั้งข้อสังเกตว่าหลายองค์ประกอบรวมทั้ง S, Se, B, Si, P, BR, I, K และ Ca มี
ขีด จำกัด ของการตรวจสอบที่ค่อนข้างสูงผ่าน ICP-MS ในกรณีของผมและสาขานี้เป็นเพราะความจริงที่ว่า
ประจุบวกน้อยมากที่จะเกิดขึ้นในพลาสม่า ICP สำหรับองค์ประกอบเหล่านี้ สำหรับองค์ประกอบ
เช่น S, Se, P, K และ Ca, isobaric และรบกวนโมเลกุลจากทั้งตัวอย่าง
เมทริกซ์หรือพลาสม่าชนิดยุ่งเกี่ยวกับไอโซโทปหลัก ซึ่งหมายความว่าน้อย
ไอโซโทปอุดมไปด้วยการรบกวนน้อย (ถ้ามี) จะต้องใช้สำหรับการกำหนด
องค์ประกอบเหล่านี้ซึ่งจะลดความสามารถในการตรวจสอบสำหรับองค์ประกอบเหล่านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มันควรจะสังเกตว่า องค์ประกอบต่าง ๆ รวมทั้ง S , เซ , B , Si , P , ห้องนอน , I , K , และแคลิฟอร์เนียได้ค่อนข้างสูง จำกัด ผ่านการ icp-ms. ในกรณีของฉัน และสอง นี่คือเนื่องจากข้อเท็จจริงที่ว่าประจุบวกน้อยมากที่เกิดขึ้นใน ICP พลาสมาสำหรับองค์ประกอบเหล่านี้ สำหรับองค์ประกอบเช่น S , l , P , K , Ca , และการแทรกแซงจากโมเลกุล 16 ตัวอย่างเมทริกซ์หรือพลาสมาชนิดรบกวนไอโซโทปปฐมภูมิ ซึ่งหมายความ ว่า น้อยไอโซโทปที่มากมายด้วยการรบกวนน้อย ( ถ้ามี ) ที่ต้องใช้ความมุ่งมั่นขององค์ประกอบเหล่านี้ ซึ่งจะลดความสามารถในการตรวจสอบสำหรับองค์ประกอบเหล่านี้