where rf, is the stress at failure, c, the half-width of the
flaw, Y, a geometric factor based on the geometry of
the flaw and silicon die, and KIc the mode I fracture
toughness for the material. Particular caution is advised
in measuring the initial flaw size when utilizing
Eq. (4). In fact, due to the brittle nature of silicon, it
is not uncommon that additional damage is generated
near or at the fracture origin after the die fracture. For
this reason, it is strongly advisable to carefully inspect
both the mating fracture surfaces to confirm that the
flaw geometry and dimensions are consistent. Based on
this work’s fractographic inspection on the {110}
plane, it was found that the ratio between the mirror
size, r90, and the effective flaw size, (ac)0.5, ought to be
in the 2
ที่ RF เป็นความเครียดที่ล้มเหลว, C, ครึ่งความกว้างของ
ข้อบกพร่อง, Y, ปัจจัยทางเรขาคณิตขึ้นอยู่กับรูปทรงเรขาคณิตของ
ข้อบกพร่องและซิลิกอนตายและ KIC โหมดที่ผมแตกหัก
เหนียวสำหรับวัสดุ ระมัดระวังในการให้คำแนะนำ
ในการวัดขนาดข้อบกพร่องที่เริ่มต้นเมื่อใช้
สมการ (4) ในความเป็นจริงเนื่องจากลักษณะเปราะของซิลิกอนมัน
ไม่ได้เป็นเรื่องแปลกที่ความเสียหายจะถูกสร้างขึ้น
ใกล้หรือที่ต้นกำเนิดของการแตกหักหลังจากที่แตกหักตาย สำหรับ
เหตุผลนี้ก็จะแนะนำอย่างยิ่งที่จะตรวจสอบอย่างรอบคอบ
ทั้งพื้นผิวการผสมพันธุ์แตกหักเพื่อยืนยันว่า
เรขาคณิตข้อบกพร่องและขนาดมีความสอดคล้องกัน ขึ้นอยู่กับ
การตรวจสอบการทำงานของ fractographic นี้เมื่อ {110}
เครื่องบินก็พบว่าอัตราส่วนระหว่างกระจก
ขนาด R90 และขนาดข้อบกพร่องที่มีประสิทธิภาพ (หรือไม่? C) 0.5 ควรจะเป็น
ใน 2ที่แตกต่างจากอัตราส่วนนี้มีแนวโน้มที่จะเกิดจากการ postfracture
ความเสียหาย นอกจากนี้การวัดขนาดข้อบกพร่อง
ที่คาดว่าจะให้ผลการประเมินที่ดีของความเครียดในที่ล้มเหลว
เมื่อข้อบกพร่องกึ่งรูปไข่จะเกิดจากวิธีการของ
หัวกด (เช่น CP เฉิน, et al.,
6
) อย่างไรก็ตาม
การดำเนินการตามวิธีการที่ไม่เป็นที่น่าเชื่อถือ
ในการใช้งานในชีวิตจริงที่เกิดความเสียหายมักจะ
เกิดจากรอยขีดข่วนยาวบนพื้นผิวของตายที่ สำหรับ
มากกว่า 50 ตัวอย่างการพิจารณาในงานนี้เท่านั้น
การแปล กรุณารอสักครู่..
ที่ RF คือความเครียดที่ล้มเหลว , C , ครึ่งความกว้างของข้อบกพร่อง , Y , ปัจจัยตามรูปทรงของเรขาคณิตข้อบกพร่องและซิลิคอนตายและ KIC โหมดผมหักความเหนียวสำหรับวัสดุ ข้อควรระวังคือควรโดยเฉพาะในการวัดข้อบกพร่องขนาดเริ่มต้นเมื่อใช้อีคิว ( 4 ) ในความเป็นจริงเนื่องจากลักษณะที่เปราะบางของซิลิกอน ,ไม่ใช่เรื่องแปลกที่ความเสียหายเพิ่มเติมจะถูกสร้างขึ้นที่ใกล้หรือที่หักต้นหลังจากตายแตก สำหรับเหตุผลนี้ ขอแนะนําให้รอบคอบตรวจสอบทั้งผสมพันธุ์พื้นผิวการแตกหัก เพื่อยืนยันว่าเรขาคณิตข้อบกพร่องและมิติที่สอดคล้อง ตามงานนี้ก็ fractographic ตรวจสอบ { 110 }เครื่องบิน พบว่าอัตราส่วนระหว่างกระจกขนาด 90 และมีประสิทธิภาพข้อบกพร่อง ( AC ) ขนาด 0.5 ควรจะเป็นใน 2 < 90 / ( AC ) 0.5 < 8 ช่วง ขนาดอย่างตำหนิแตกต่างจากอัตราส่วนนี้มักจะเกิดจาก postfractureความเสียหาย นอกจากนี้ การวัดขนาด ข้อเสียคือคาดว่าจะให้ผลตอบแทนประมาณที่ดีของความเครียดความล้มเหลวเมื่อกึ่งวงรี จะเกิดจากการตําหนิมีหัวกด ( เช่น ซี. พี. Chen et al . ,6) อย่างไรก็ตามการใช้วิธีการที่ไม่เป็นที่น่าเชื่อถือในชีวิตจริงการใช้งานที่เสียหายบ่อยๆที่เกิดจากรอยขีดข่วนบนพื้นผิวของตาย สำหรับกว่า 50 คน ถือว่าในงานนี้เท่านั้น
การแปล กรุณารอสักครู่..