Scanning electron microscopy and el

Scanning electron microscopy and elemental analysis were performed
on platinum coated samples that were previously air-dried
on silicon wafers.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดำเนินการสแกนอิเล็กตรอน microscopy และวิเคราะห์ธาตุบนแพลตินั่มเคลือบอย่างที่ก่อนหน้านี้ถูก air-driedในรับซิลิคอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนและการวิเคราะห์ธาตุได้ดำเนินการกับตัวอย่างเคลือบทองคำขาวที่ก่อนหน้านี้อากาศแห้งในซิลิคอนเวเฟอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด และวิเคราะห์ธาตุได้
บนแพลทินัมเคลือบตัวอย่างที่ก่อนหน้านี้อากาศ
บนซิลิคอนเวเฟอร์อบแห้ง