Even after the potential-induced de

Even after the potential-induced degradation test for 2 weeks, no degradation was observed in the module involving the IO encapsulant (fig7.)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แม้หลังจากการทดสอบย่อยสลายเกิดศักยภาพ 2 สัปดาห์ ไม่สลายตัวพบว่า ในโมดูลที่เกี่ยวข้องกับ encapsulant IO (fig7)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

แม้หลังจากการทดสอบการย่อยสลายที่มีศักยภาพที่เกิดขึ้นเป็นเวลา 2 สัปดาห์การย่อยสลายไม่เป็นที่สังเกตในโมดูลที่เกี่ยวข้องกับการ IO encapsulant (fig7.)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

แม้หลังจากการทดสอบศักยภาพในการย่อยสลายนาน 2 สัปดาห์ ไม่มีการตรวจสอบในโมดูลที่เกี่ยวข้องกับไอโอ encapsulant ( fig7 )