Defects near the surface can be com

Defects near the surface can be completely characterized and defined using reflection topography. Defects in the bulk can be probed using transmission techniques(

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ข้อบกพร่องใกล้พื้นผิวได้อย่างสมบูรณ์ลักษณะ และกำหนดใช้ภูมิประเทศสะท้อน สามารถพิสูจน์ข้อบกพร่องในการใช้(เทคนิคการส่งข้อมูล

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ข้อบกพร่องที่อยู่ใกล้พื้นผิวสามารถโดดเด่นอย่างสมบูรณ์และกำหนดโดยใช้ภูมิประเทศสะท้อน ข้อบกพร่องในกลุ่มที่สามารถใช้เทคนิคการตรวจสอบการส่ง (

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ข้อบกพร่องใกล้พื้นผิวสามารถสมบูรณ์ลักษณะภูมิประเทศและกำหนดใช้แสงสะท้อน ข้อบกพร่องในกลุ่มสามารถตรวจสอบโดยใช้เทคนิคการส่งผ่าน (