Base on ET data of SSO-007165 showe

Base on ET data of SSO-007165 showed wafer low yield that contribute from instability as table below. So we propose add the site affect at Begin/End of HGA and scrap HGA that wafer affect from SSO ka.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ฐานข้อมูล ET ของแผ่นเวเฟอร์ SSO-007165 แสดงให้เห็นว่าผลตอบแทนต่ำซึ่งเป็นส่วนหนึ่งจากความไม่แน่นอนตามตารางด้านล่างนี้ ดังนั้นเราเสนอเพิ่มมีผลต่อเว็บไซต์ที่เริ่มต้น/สิ้นสุดของ HGA และเศษ HGA ที่มีผลต่อการขัดแผ่นจาก SSO ka

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ฐานข้อมูลของสปส. ET-007165 แสดงให้เห็นว่าผลผลิตต่ำเวเฟอร์ที่มีส่วนร่วมจากความไม่แน่นอนในขณะที่ตารางด้านล่าง ดังนั้นเราจึงเสนอเพิ่มเว็บไซต์ที่มีผลต่อการเริ่มต้น / สิ้นสุด HGA และเศษ HGA ที่ส่งผลกระทบต่อเวเฟอร์จากสปส. กา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นฐานและข้อมูล sso-007165 พบเวเฟอร์ ผลผลิตต่ำ ที่มีส่วนร่วมจากความไม่แน่นอนที่ตารางด้านล่าง ดังนั้นเราจึงเสนอเพิ่มเว็บไซต์มีผลต่อที่เริ่ม / สิ้นสุดเมอร์เมอร์เวเฟอร์และเศษที่กระทบจากสปส. ค่ะ