In this study, silicon carbide (SiC

In this study, silicon carbide (SiC) is fabricated using polymer infiltration and pyrolysis (PIP). Allylhydridopolycarbosilane (AHPCS) is used as the preceramic polymer. Final processing temperatures are varied to observe the change in microstructure as well as physical and mechanical properties. Density, porosity and thermal conductivity are determined as a function of processing temperatures. Microstructural characterization, done using atomic force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD), has revealed the presence of nanocrystalline domains with grain sizes in the range of 5–20 nm. The degree of crystallinity is determined using non-contact mode atomic force microscopy. The degree of crystallinity follows an increasing trend with processing temperature. Hardness and modulus are determined using nanoindentation, and are found to be influenced by the degree of crystallinity

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในการศึกษานี้ ซิลิกอนคาร์ไบด์ (SiC) ถูกประดิษฐ์ใช้แทรกซึมพอลิเมอร์และไพโรไลซิ (PIP) Allylhydridopolycarbosilane (AHPCS) ถูกใช้เป็นโพลีเมอร์ preceramic ประมวลผลสุดท้ายอุณหภูมิจะแตกต่างกันตามการเปลี่ยนแปลงในโครงสร้างจุลภาคและคุณสมบัติทางกายภาพ และทางกล ความหนาแน่น ความพรุน และการนำความร้อนจะถูกกำหนดเป็นฟังก์ชันของอุณหภูมิการประมวลผล จุลภาคสมบัติ ทำโดยใช้อะตอมบังคับเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) และกล้องจุลทรรศน์ (AFM) มีการเปิดเผยสถานะของโดเมน nanocrystalline มีขนาดเกรนในช่วง 5 – 20 nm ระดับของผลึกจะถูกกำหนดโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมโหมด-ติดต่อ ระดับของผลึกนี้มีแนวโน้มที่เพิ่มขึ้นกับอุณหภูมิการประมวลผล ความแข็งและโมดูลัสใช้ nanoindentation และพบว่ามีผลมาจากระดับของผลึก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในการศึกษานี้ซิลิกอนคาร์ไบด์ (SIC) ถูกประดิษฐ์โดยใช้พอลิเมอแทรกซึมและไพโรไลซิ (PIP) Allylhydridopolycarbosilane (AHPCS) ใช้เป็นพอลิเมอ preceramic อุณหภูมิการประมวลผลรอบชิงชนะเลิศจะแตกต่างกันที่จะสังเกตเห็นการเปลี่ยนแปลงในโครงสร้างจุลภาคเช่นเดียวกับคุณสมบัติทางกายภาพและเชิงกล ความหนาแน่นพรุนและการนำความร้อนจะถูกกำหนดเป็นหน้าที่ของอุณหภูมิในการประมวลผล ลักษณะจุลภาค, ทำได้โดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) และเอ็กซ์เรย์เลนส์ (XRD) ได้เปิดเผยการปรากฏตัวของโดเมน nanocrystalline ที่มีขนาดเมล็ดข้าวในช่วง 5-20 นาโนเมตรที่ การศึกษาระดับปริญญาของผลึกจะถูกกำหนดโดยใช้ติดต่อไม่ใช่โหมดกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม การศึกษาระดับปริญญาของผลึกดังต่อไปนี้มีแนวโน้มเพิ่มขึ้นตามอุณหภูมิการประมวลผล ความแข็งและโมดูลัสจะถูกกำหนดโดยใช้ nanoindentation และพบว่าได้รับอิทธิพลจากระดับของผลึก