The crystalline structures of the s

The crystalline structures of the samples were analyzed by Rigaku Miniflex II model X-ray diffractometer at 30 kV(scanning
rate:21/min, 15 mA with λ¼1.5406 Å Cu-Kα radiation) using X-ray diffraction (XRD) technique.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างผลึกของตัวอย่างมาวิเคราะห์โดย Rigaku Miniflex ครั้งที่สองรูปแบบมาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ 30 กิโลโวลต์ที่
(สแกนอัตรา: 21 / นาที, 15 มิลลิแอมป์กับλ¼1.5406Å Cu-Kαรังสี) โดยใช้ X-ray diffraction (XRD) เทคนิค

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างของผลึกของกลุ่มตัวอย่าง วิเคราะห์ข้อมูลโดย rigaku miniflex เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ 2 รุ่นที่ 30 กิโล ( สแกน
คะแนน : 21 / นาที 15 มาด้วยλ¼ 1.5406 • cu-k αรังสี ) โดยใช้เครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) เทคนิค