The FEM is a state-of-the-art elect

The FEM is a state-of-the-art electron microscope. The new field-emitter technology and advanced Gemini column allow for ultra-high resolution electron imaging, over x1,000,000 (>10nm at 1kV) for some samples. At such low voltages, non-conductive samples are easily imaged without coating.

The VP mode runs the sample chamber at high pressure (20-40Pa) which assisting in charge-compensation of the sample. This allows insulating samples to be analyzed and imaged without coating.

The EDS system detects X-rays emitted from the sample as a result of the high-energy electron beam penetrating into the sample. X-ray spectra can be collected and analyzed, yielding quantitative elemental information about the sample. A "standardless" routine is utilized, which yields an accuracy of 1-2% and sensitivities for some elements down to 0.1 weight percent. Linescans and x-ray maps can also be generated.

The Electron Backscattered Diffraction (EBSD) system utilizes a fluorescent screen to capture the electrons diffracted from a crystalline sample. The diffraction pattern is characteristic of the crystal structure and orientation of the sample region from which is was generated. With the aid of very sophisticated software and multiple crystallographic databases, crystal structures can be identified and oriented. For an expertly-polished sample, mapping of orientations, stresses, morphologies, etc. are also possible.
In summary, the major advantages of FE SEM are:

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

FEM เป็นรัฐของศิลปะกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน เทคโนโลยีที่สนามอีซีแอลใหม่และคอลัมน์ที่ทันสมัยราศีเมถุนอนุญาตให้มีความละเอียดสูงพิเศษถ่ายภาพอิเล็กตรอนมากกว่า x1,000,000 (> 10nm ที่ 1kV) สำหรับตัวอย่างบางส่วน แรงดันไฟฟ้าที่ต่ำเช่นตัวอย่างไม่นำไฟฟ้าได้รับการถ่ายภาพได้อย่างง่ายดายโดยการเคลือบ. โหมด VP ทำงานห้องตัวอย่างที่ความดันสูง (20-40Pa) ซึ่งให้ความช่วยเหลือในการชดเชยค่าใช้จ่ายของกลุ่มตัวอย่าง นี้จะช่วยให้ตัวอย่างฉนวนที่จะวิเคราะห์และถ่ายภาพโดยไม่ต้องเคลือบ. ระบบ EDS ตรวจพบรังสีเอกซ์ปล่อยออกมาจากกลุ่มตัวอย่างที่เป็นผลมาจากลำแสงอิเล็กตรอนพลังงานสูงเจาะเข้าไปในตัวอย่าง สเปกตรัม X-ray สามารถเก็บรวบรวมและวิเคราะห์ข้อมูลผลผลิตธาตุเชิงปริมาณเกี่ยวกับตัวอย่าง A "standardless" กิจวัตรประจำวันถูกนำมาใช้ซึ่งผลตอบแทนถัวเฉลี่ยความถูกต้องของ 1-2% และความเปราะบางสำหรับองค์ประกอบบางอย่างลงไปร้อยละ 0.1 น้ำหนัก Linescans และแผนที่เอ็กซ์เรย์ยังสามารถสร้างได้. อิเล็กตรอนสะท้อนเลนส์ (EBSD) ระบบจะใช้หน้าจอเรืองแสงที่จะจับอิเล็กตรอนกระจายได้จากตัวอย่างผลึก เลนส์แบบเป็นลักษณะของโครงสร้างผลึกและทิศทางของภูมิภาคจากกลุ่มตัวอย่างซึ่งเป็นถูกสร้างขึ้น ด้วยความช่วยเหลือของซอฟแวร์ที่มีความซับซ้อนมากและฐานข้อมูล crystallographic หลายโครงสร้างผลึกสามารถระบุและมุ่งเน้น สำหรับตัวอย่างเชี่ยวชาญขัดทำแผนที่ของการหมุน, ความเครียด, รูปร่างลักษณะและอื่น ๆ นอกจากนี้ยังมีความเป็นไปได้. ในการสรุปข้อดีของ FE SEM คือ:

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเปรียบเทียบ คือ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสถานะของสมัย สนามใหม่และอีซีเทคโนโลยีขั้นสูงช่วยให้สำหรับความละเอียดสูงพิเศษคอลัมน์คู่อิเล็กตรอนการถ่ายภาพมากกว่า x1000000 ( > 10nm ที่ 1kv ) สำหรับบางตัวอย่าง ที่แรงดันไฟฟ้าต่ำ ตัวอย่าง non-conductive ได้อย่างง่ายดายโดยไม่ต้องเคลือบอื่นๆ

โหมด VP วิ่งตัวอย่างห้องที่ความดันสูง ( 20-40pa ) ซึ่งช่วยชดเชยค่าใช้จ่ายของตัวอย่าง นี้จะช่วยให้ตัวอย่าง มาวิเคราะห์ และฉนวนอื่นๆ โดยไม่มีการเคลือบ ระบบตรวจจับรังสีเอกซ์ EDS

ออกมาจากตัวอย่างผลของลำอิเล็กตรอนพลังงานสูงเจาะเข้าไปในตัวอย่าง สเปกตรัมรังสีเอกซ์สามารถรวบรวมและวิเคราะห์ที่มีข้อมูลเชิงปริมาณเกี่ยวกับธาตุ ตัวอย่าง " standardless " รูทีนเป็นประโยชน์ ซึ่งให้ค่าความถูกต้องของ 1-2 % และความไวบางองค์ประกอบลงไปหนัก 0.1 เปอร์เซ็นต์ แผนที่และ linescans รังสีเอกซ์จะถูกสร้างขึ้นได้

backscattered การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอน ( ebsd ) ระบบที่ใช้จอเรืองแสงเพื่อจับอิเล็กตรอนกระจายจากตัวอย่างผลึกภาพลวดลายการเลี้ยวเบนคือลักษณะของโครงสร้างผลึกและทิศทางของภูมิภาค จากตัวอย่างที่ถูกสร้างขึ้น ด้วยความช่วยเหลือของซอฟต์แวร์ที่ซับซ้อนมากและหลายฐานข้อมูลทางโครงสร้างผลึกสามารถระบุ และมุ่งเน้น สำหรับตัวอย่างเชี่ยวชาญขัดแผนที่ orientations , เน้น , เริ่มต้น , ฯลฯ นอกจากนี้ยังเป็นไปได้
ในรุปข้อดีหลักของ SEM : เหล็ก