Cubes of 2–3 mm were cut from insid

Cubes of 2–3 mm were cut from inside the gels for microscopic examination and rapidly quenching
them to the temperature of liquid nitrogen. The characteristic emission of sulphur under electron bombardment was determined by scanning electron microscope (Jeol Scanning Microscope, JSM 6400, Japan) at 20 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ลูกบาศก์ของ 2 – 3 มิลลิเมตรถูกตัดจากภายในเจสำหรับตรวจด้วยกล้องจุลทรรศน์และการชุบอย่างรวดเร็วให้อุณหภูมิของไนโตรเจนเหลว ปล่อยก๊าซลักษณะของซัลเฟอร์ภายใต้การระดมยิงอิเล็กตรอนถูกกำหนด โดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Jeol สแกนกล้องจุลทรรศน์ JSM 6400 ญี่ปุ่น) ที่ 20 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ก้อน 2-3
มมถูกตัดจากภายในเจลสำหรับการตรวจด้วยกล้องจุลทรรศน์อย่างรวดเร็วและดับพวกเขาที่อุณหภูมิของไนโตรเจนเหลว การปล่อยลักษณะของกำมะถันอยู่ภายใต้การโจมตีอิเล็กตรอนถูกกำหนดโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Jeol สแกนกล้องจุลทรรศน์ JSM 6400, ญี่ปุ่น) ที่ 20 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ก้อนที่ 2 – 3 เดือนถูกตัดจากภายในเจลสำหรับกล้องจุลทรรศน์อย่างรวดเร็วและดับ
ให้อุณหภูมิของไนโตรเจนเหลว ลักษณะการปล่อยซัลเฟอร์ภายใต้การโจมตีอิเล็กตรอนถูกตัดสินใจโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( Jeol สแกนกล้องจุลทรรศน์ JSM 6400 , ญี่ปุ่น ) ที่ 20 KV .