Scanning electron microscope (SEM):

Scanning electron microscope (SEM): The scanning electron microscope was used to determine the thickness and cross section of fibres. SEM is capable to produce high resolution images of a sample surface.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM): ใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเพื่อตรวจสอบความหนาและส่วนตัดขวางของเส้นใย SEM มีความสามารถในการผลิตภาพความละเอียดสูงของพื้นผิวตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM): กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ถูกใช้ในการกำหนดความหนาและตัดขวางของเส้นใย SEM คือความสามารถในการผลิตภาพความละเอียดสูงของพื้นผิวของตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนถูกใช้เพื่อกำหนดความหนา และภาคตัดขวางของเส้นใย ซึ่งมีความสามารถในการผลิตภาพความละเอียดสูง ตัวอย่างของพื้นผิว