where TC(hkl) is the texture coeffic

where TC(hkl) is the texture coefficient of the (hkl) plane and I(hkl) is the measured intensity. The valueof thetexturecoefficientindicatesthe maximumpreferredorientationof the filmsalongthediffraction plane, meaning that the increase in preferred orientation is associated with increase in the number of grains along that plane. As the substrate temperatures increased from 0 to 400C, the TC(002) of AZO film increased from 0.7 to 0.72. The increase in amount of preferred orientation associated with the increased number of grains along (002) [17]. Also, the full width a half maximum (FWHM) of (002) peak decreased with increasing the substrate temperature, this means that the crystallinityofthesefilmsenhanceswithsubstratetemperature.Theimprovementinhighersubstrate temperature is due to the increase in the mobility of the sputtered AZO atoms [18]. The average crystallite size of the AZO film is determined using the Scherrer formula [19]

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ที่ TC(hkl) เป็น coefficient เนื้อของเครื่องบิน (hkl) และ I(hkl) คือ ความเข้มข้นที่วัดได้ ค่า thetexturecoefficientindicatesthe maximumpreferredorientationof เครื่องบิน filmsalongthediffraction หมายความ ว่า การเพิ่มขึ้นในทิศทางที่ต้องเกี่ยวข้องกับการเพิ่มจำนวนของเม็ดตามแนวระนาบที่ เป็นพื้นผิวอุณหภูมิเพิ่มจาก 0 ถึง 400 C, TC(002) ของ AZO ภาพยนตร์เพิ่มขึ้นจาก 0.7 0.72 เพิ่มขึ้นจำนวนแนวที่ต้องเกี่ยวข้องกับหมายเลขที่เพิ่มขึ้นของธัญพืชตาม (002) [17] ยัง ความกว้างเต็มที่ครึ่งสูงสุด (FWHM) สูงสุด (002) ลดลง ด้วยการเพิ่มอุณหภูมิพื้นผิว นี้หมายความ ว่า crystallinityofthesefilmsenhanceswithsubstratetemperature Theimprovementinhighersubstrate อุณหภูมิเป็นการเพิ่มการเคลื่อนที่ของอะตอม AZO sputtered [18] ขนาดเฉลี่ยผลึกของ AZO ภาพยนตร์จะถูกกำหนดโดยใช้สูตร Scherrer [19]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ที่ TC (HKL) คือประสิทธิภาพ Fi เนื้อ COEF ของ (HKL) เครื่องบินและฉัน (HKL) เป็นความเข้มที่วัด valueOf thetexturecoef Fi cientindicatesthe maximumpreferredorientationof เครื่องบิน lmsalongthediffraction Fi ซึ่งหมายความว่าการเพิ่มขึ้นในทิศทางที่ต้องการมีความเกี่ยวข้องกับการเพิ่มจำนวนของธัญพืชพร้อมเครื่องบินว่า เป็นอุณหภูมิพื้นผิวเพิ่มขึ้น 0-400 องศาเซลเซียสที่ TC (002) ของ AZO Fi LM เพิ่มขึ้น 0.7-0.72 การเพิ่มขึ้นของจำนวนเงินของการปฐมนิเทศแนะนำที่เกี่ยวข้องกับจำนวนที่เพิ่มขึ้นของเมล็ดพร้อม (002) [17] นอกจากนี้เต็มความกว้างครึ่งสูงสุด (FWHM) ของ (002) ยอดลดลงเมื่อเพิ่มอุณหภูมิพื้นผิวนี้หมายความว่าอุณหภูมิ Fi lmsenhanceswithsubstratetemperature.Theimprovementinhighersubstrate crystallinityofthese คือเนื่องจากการเพิ่มขึ้นในการเคลื่อนย้ายของการพ่นอะตอม AZO ที่ [18] ขนาดผลึกค่าเฉลี่ยของ Fi LM AZO จะถูกกำหนดโดยใช้สูตร Scherrer [19]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่ TC ( HKL ) เป็นเนื้อ coef จึง cient ของเครื่องบิน ( HKL ) และฉัน ( HKL ) คือการวัดความเข้ม โดย thetexturecoef จึง cientindicatesthe maximumpreferredorientationof จึง lmsalongthediffraction เครื่องบินที่เพิ่มขึ้นในทิศทางที่ต้องการจะเกี่ยวข้องกับการเพิ่มจำนวนของเมล็ดด้วยเครื่อง ในขณะที่พื้นผิวอุณหภูมิเพิ่มขึ้นจาก 0 ถึง 40 , TC ( 002 ) ของอาร์ทีมิสจึง LM เพิ่มขึ้นจาก 0.7 ) . การเพิ่มปริมาณการใช้ที่เกี่ยวข้องกับเพิ่มจำนวนเม็ดตาม ( 002 ) [ 17 ] นอกจากนี้ ความกว้างเต็มครึ่งสูงสุด ( FWHM ) ( 002 ) ยอดเพิ่มขึ้น เมื่ออุณหภูมิของแผ่นรองรับ ซึ่งหมายความ ว่า crystallinityofthese จึง lmsenhanceswithsubstratetemperature.theimprovementinhighersubstrate อุณหภูมิเนื่องจากการเพิ่มขึ้นในการ sputtered อะโซอะตอม [ 18 ] ค่าเฉลี่ยของขนาดผลึกของอาร์ทีมิสจึง LM ถูกกำหนดโดยใช้สูตร [ 19 ] เชเรอร์