Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) was conducted on a HITACHI
S4700 instrument at room temperature in order to investigate
the surface morphology of the fabric samples and the residue of the
samples after combustion. All the samples were sputtered with
platinum before SEM analysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) วิธีการแบบฮิตาชิเครื่องมือ S4700 ที่อุณหภูมิห้องเพื่อตรวจสอบสัณฐานวิทยาที่พื้นผิวของตัวอย่างผ้าและสารตกค้างของการตัวอย่างหลังจากการเผาไหม้ ตัวอย่างทั้งหมดถูก sputtered กับแพลตินั่มก่อนการวิเคราะห์ SEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) ได้ดำเนินการใน HITACHI
ตราสาร S4700 ที่อุณหภูมิห้องเพื่อตรวจสอบลักษณะพื้นผิวของตัวอย่างผ้าและกากของตัวอย่างหลังจากการเผาไหม้ ตัวอย่างทั้งหมดถูกพ่นด้วยทองคำก่อนที่จะวิเคราะห์ SEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ดำเนินการใน Hitachi
s4700 เครื่องดนตรีที่อุณหภูมิห้องเพื่อตรวจสอบลักษณะพื้นผิวของผ้า
กาก
ตัวอย่างและตัวอย่างหลังจากการเผาไหม้ ตัวอย่างทั้งหมดถูก sputtered กับ
แพลทินัมก่อนการวิเคราะห์ SEM