2.3. Characterization of ZnO anchor

2.3. Characterization of ZnO anchored SiO2 NPs
The amount of ZnO in ZSO-X was measured with ICP-AES with a
ICP-OES Optima 7000 DV Perkin Elmer instrument. Specimens for
the analysis were prepared by thinly grinding 0.2 g of powdered
samples and dissolving them in a Teflon beaker with 5 mL of HF
49%. Then the solution was dried and the residue rinsed five times
with 3 mL of HCl 37%. Finally, the obtained solution was dried
again, and the solid dissolved with MQ water and diluted in a
250 mL calibrated flask. Before analysis a further dilution 1:100
was carried out.
The presence of crystalline phases was assessed by conventional
XRD using a Bruker D8 Advance instrument, having a Cu
Ka incident beam (k = 1.5406 Å). The morphological characterization
of ZSO-X powders was performed on a Jeol 3010 High
Resolution Transmission Electron Microscope operating at 300 kV
with a high-resolution pole piece (0.17 nm point to point resolution)
and equipped with a Gatan slow-scan 794 CCD camera. The
powders were suspended in isopropanol, and a 5 lL drop of this
suspension was deposited on a holey carbon film supported on
3 mm copper grid for TEM investigation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3 การจำแนกของ ZnO ยึด SiO2 NPsZnO ใน ZSO X จำนวนถูกวัดกับ ICP-AES ด้วยการเครื่องมือวิจัยพติ 7000 DV เพอร์เอลเมอ ไว้เป็นตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์จัดทำ โดยตวงบด 0.2 กรัมของผงตัวอย่างและยุบไปในบีกเกอร์เป็นเทฟลอนด้วย 5 mL ของ HF49% โซลูชันที่แห้ง และสารตกค้างที่ rinsed ห้าครั้งแล้วกับ 3 mL ของ HCl 37% สุดท้าย แห้งการแก้ปัญหาที่ได้รับอีกครั้ง และของแข็งส่วนยุบ MQ น้ำผสมในการ250 mL ปรับเทียบหนาว ก่อนวิเคราะห์ 1: 100 การเจือจางเพิ่มเติมได้รับการดำเนินการของเฟสผลึกถูกประเมิน โดยทั่วไปXRD โดยใช้เครื่องมือล่วงหน้า D8 Bruker, Cu มีกาแสงปัญหา (k = 1.5406 Å) จำแนกสัณฐานของผง ZSO-X ทำการตาม Jeol 3010 สูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่งแก้ไขปฏิบัติ 300 kVมีขั้วมีความละเอียดสูง (0.17 nm จุดจะจุดความละเอียด)และพร้อมกล้อง CCD ช้าสแกน 794 Gatan ที่ผงถูกหยุดชั่วคราวใน isopropanol, 5 จะหยดนี้ระบบกันสะเทือนถูกฝากบนฟิล์มคาร์บอน holey ที่สนับสนุนตาราง 3 มม.ทองแดงสำหรับยการสอบสวน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3 ลักษณะของซิงค์ออกไซด์ทอดสมอ SiO2 NPS
ปริมาณของซิงค์ออกไซด์ใน ZSO-X ได้รับการวัดที่มี ICP-AES กับ
ICP-OES Optima ตราสาร DV 7000 Perkin Elmer ตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์ที่ถูกจัดทำขึ้นโดยบางบด 0.2 กรัมผงตัวอย่างและการละลายไว้ในบีกเกอร์เทฟลอน5 มิลลิลิตร HF 49% แล้ววิธีการแก้ปัญหาที่ถูกแห้งและสารตกค้างล้างห้าครั้งมี 3 มิลลิลิตร HCl 37% ในที่สุดได้รับการแก้ปัญหาแห้งอีกครั้งและของแข็งที่ละลายกับน้ำ MQ และเจือจางใน 250 มิลลิลิตรขวดสอบเทียบ ก่อนที่จะวิเคราะห์ต่อไปเจือจาง 1: 100. ได้ดำเนินการปรากฏตัวของผลึกขั้นตอนได้รับการประเมินโดยทั่วไปXRD ใช้เครื่องมือ Bruker D8 ล่วงหน้ามี Cu คานเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นค่ะ (k = 1.5406 A) ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของผง ZSO-X ได้รับการดำเนินการบน Jeol 3010 สูงความละเอียดTransmission Electron Microscope การดำเนินงานที่ 300 กิโลโวลต์ที่มีความละเอียดสูงชิ้นส่วนเสา(0.17 นาโนเมตรชี้ไปที่จุดความละเอียด) และอุปกรณ์ที่มี Gatan ช้าสแกน 794 กล้อง CCD ผงถูกระงับใน isopropanol และลดลง 5 นี้จะระงับถูกวางลงบนฟิล์มคาร์บอนที่มีรูรับการสนับสนุนบน3 มมตารางทองแดงสำหรับการตรวจสอบ TEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3 คุณสมบัติของซิงค์ออกไซด์ SiO2 ทอดสมอโดย
ปริมาณซิงค์ออกไซด์ใน zso-x วัดด้วยเทคนิคกับรูปแบบ DV เพอร์กินเอลเมอร์
Optima , เครื่องดนตรี ตัวอย่างการวิเคราะห์
เตรียมโดยบดตัวอย่างประปราย 0.2 กรัมผง
และการละลายในบีกเกอร์ที่มี Teflon 5 มิลลิลิตรของ HF
49 % แล้วสารละลายที่แห้งและกากล้างห้าครั้ง
3 มล. ของ HCl 37% ในที่สุดนำสารละลายที่แห้ง
อีกครั้งและของแข็งละลายน้ำเจือจางกับ MQ และสอบเทียบใน
250 ml . ขวด ก่อนการวิเคราะห์เพิ่มเติมเจือจาง 1 : 100

มีการ ประเมินสถานะของเฟสผลึกโดย XRD ปกติ
ใช้เครื่องมือล่วงหน้า d8 บรุคเกอร์ มีทองแดง
กะเหตุการณ์คาน ( K = 1.5406 Å )
ลักษณะทางสัณฐานวิทยาผง zso-x แสดงบนจอล 3010 สูง
ความละเอียดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนงาน 300 KV
กับความละเอียดสูงเสาชิ้น ( 0.17 nm ชี้ไปที่จุดละเอียด )
และพร้อมกับการสแกนช้า gatan 794 CCD ของกล้อง
ผงแขวนลอยในกระแส และ 5 จะวางของการระงับนี้
ฝากบนฟิล์มคาร์บอน holey รองรับ
3 mm วิ่ง grid for investigation tem .