A scanning electron microscope (Leo

A scanning electron microscope (Leo 1530 Gemini,Zeiss) coupled with an Energy Dispersive X-ray Analyser(SEM/EDXA) (Vantage by Thermo Electron Corporation) wasused to image and analyze the composition of the samples. Theaccuracy of the elemental analysis was ±1.5 mol%. The sampleswere also studied using an X-ray diffraction analyzer (PhilipsX’pert) with Cu K radiation (λ = 1.5418°A) to analyze the crys-talline phases present. The scans were performed from 2θ = 0 to60◦with a step size of 0.02◦.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (เมถุนสิงห์ 1530, Zeiss) ควบคู่กับการ wasused Analyser(SEM/EDXA) เอ็กซ์เรย์ Dispersive พลังงาน (Vantage โดย บริษัทเทอร์โมอิเล็กตรอน) ภาพ และวิเคราะห์องค์ประกอบของตัวอย่าง Theaccuracy การวิเคราะห์ธาตุถูก ±1.5 โมล% Sampleswere ยังศึกษาด้วยการวิเคราะห์เอกซเรย์การเลี้ยวเบน (PhilipsX'pert) รังสี Cu K (λ = 1.5418 ° A) เพื่อวิเคราะห์ระยะปัจจุบัน crys-talline สแกนดำเนินจาก 2θ = 0 to60◦with ขั้นตอนขนาด 0.02◦

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (1530 ราศีสิงห์ราศีเมถุน Zeiss) ควบคู่ไปกับการกระจายพลังงาน Analyser X-ray (SEM / EDXA) (Vantage โดยเทอร์โมอิเลคคอร์ปอเรชั่น) wasused กับภาพและวิเคราะห์องค์ประกอบของตัวอย่าง Theaccuracy ของการวิเคราะห์ธาตุเป็น± 1.5 mol% sampleswere ยังศึกษาโดยใช้การวิเคราะห์ X-ray diffraction (PhilipsX'pert) กับ Cu K? รังสี (λ = 1.5418 °) ในการวิเคราะห์ขั้นตอน CRYS-talline ปัจจุบัน สแกนได้ดำเนินการจาก2θ = 0 to60◦withขนาดขั้นตอนของ0.02◦

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( สิงห์ 1 ราศีเมถุน Zeiss ) ควบคู่ไปกับพลังงานกระจายตัววิเคราะห์รังสีเอกซ์ ( SEM / edxa ) ( Vantage โดยอิเล็กตรอนร้อน Corporation ) และภาพและวิเคราะห์องค์ประกอบของตัวอย่าง ความถูกต้องของการวิเคราะห์ธาตุคือ± 1.5 mol % คนเรียนโดยใช้การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์วิเคราะห์ ( philipsx'pert ) ที่มี Cu K  รังสี ( λ = 1โปรแกรมองศา ) เพื่อวิเคราะห์เสื้อ talline ระยะปัจจุบัน การสแกนได้จาก 2 θ = 0 to60 ◦ด้วยขั้นตอนขนาด 0.02 ◦ .