For routine scanning electron micro

For routine scanning electron microscope images, secondary electrons (SE) form the usual image of the surface. Secondary electrons are low energy electrons formed by inelastic scattering and have energy of less than 50eV. The low energy of these electrons allows them to be collected easily. This is achieved by placing a positively biased grill on the front of the SE detector, which is positioned off to one side of the specimen. The positive grill attracts the negative electrons and they go through it into the detector. This is the case for the Everhart-Thornley detector which is most commonly used but there is another kind of In-lens SE detector in some machines.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนประจำภาพ รองอิเล็กตรอน (SE) เป็นภาพปกติของพื้นผิว รองอิเล็กตรอนคือ อิเล็กตรอนพลังงานต่ำที่เกิดขึ้น โดย inelastic scattering และมีพลังงานน้อยกว่า 50eV พลังงานต่ำสุดของอิเล็กตรอนเหล่านี้ช่วยให้พวกเขาได้รวบรวม นี้สามารถทำได้ โดยการทำตะแกรง biased บวกด้านหน้าของเครื่องตรวจจับ SE ซึ่งอยู่ในตำแหน่งปิดด้านใดด้านหนึ่งของการ กริลล์บวกดึงดูดอิเล็กตรอนลบ และจะไปถึงมันเป็นเครื่องตรวจจับ จับ Everhart Thornley ซึ่งมักใช้ในกรณีนี้ แต่มีในเลนส์จับ SE ในเครื่องจักรบางชนิดอื่น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนประจำอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (SE) ในรูปแบบภาพปกติของพื้นผิว อิเล็กตรอนรองอิเล็กตรอนพลังงานต่ำที่เกิดขึ้นจากการกระเจิงยืดหยุ่นและมีพลังงานน้อยกว่า 50eV พลังงานต่ำของอิเล็กตรอนเหล่านี้ช่วยให้พวกเขาที่จะเก็บได้อย่างง่ายดาย นี่คือความสำเร็จโดยการวางย่างลำเอียงทางบวกที่ด้านหน้าของเครื่องตรวจจับ SE ซึ่งอยู่ในตำแหน่งที่ออกไปด้านใดด้านหนึ่งของชิ้นงาน ย่างในเชิงบวกที่ดึงดูดอิเล็กตรอนเชิงลบและพวกเขาผ่านมันไปลงในเครื่องตรวจจับ นี่คือกรณีการตรวจจับ Everhart-ธ อร์นซึ่งเป็นที่ใช้กันมากที่สุด แต่มีชนิดของเลนส์ในเครื่องตรวจจับ SE ในบางเครื่องอื่น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สำหรับขั้นตอนการสแกนภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน อิเล็กตรอนทุติยภูมิ ( SE ) แบบภาพปกติของพื้นผิว อิเล็กตรอนที่มีพลังงานต่ำ ซึ่งเกิดจากการกระเจิงอิเล็กตรอน และมีพลังงานน้อยกว่า 50ev . การประหยัดพลังงานของอิเล็กตรอนเหล่านี้จะช่วยให้คุณสามารถที่จะเก็บข้อมูลได้ง่าย นี่คือความโดยการวางอคติบวกย่างบนด้านหน้าของ SE เครื่อง ,ซึ่งจะวางออกด้านหนึ่งของชิ้นงาน ย่างบวกดึงดูดอิเล็กตรอนเชิงลบและพวกเขาผ่านเข้าไปในเครื่องตรวจจับ เป็นกรณีนี้สำหรับ เอเวอร์ฮาร์ททอร์นลีย์เครื่องตรวจจับที่ใช้กันมากที่สุด แต่ก็เป็นอีกชนิดของ Lens SE เครื่องตรวจจับในเครื่องบ้าง