electron mode using an FEI Magellan

electron mode using an FEI Magellan system at an accelerating voltage
of 2 keV.
For the identification of crystalline phases in the TiO2 layers, glancing
angle X-ray diffraction (GAXRD) under an angle of incidence of 1° was
carried out on the samediffractometer systemas used for XRRmeasurements.
At small angles of incidence the penetration depth of the x-rays
is confined to the near surface area; hence, contributions from the substrate
are mostly suppressed.
The composition of the main constituents Ti and O has been
quantified by wavelength-dispersive x-ray fluorescence spectroscopy
(WDXRF) on a Bruker AXS S8 spectrometer. The Bruker AXS software
ML Quant was used to calculate the stoichiometry of the TiO2 layers.
Based on a layer model, this software package calculates the reabsorption
and secondary fluorescence contributions to the primary
fluorescence yield for a layered and hence vertically inhomogeneous
sample.
Residual carbon and nitrogen contents of the films were measured
by x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) on a Specs Phoibos 150
MCD-9 system with Al Kα x-ray source.
To distinguish between surface carbon contamination and carbon
incorporated in the films during deposition, the surface was cleaned
in situ by argon ion sputtering for 30 s at an ion energy of 5 kV. The
XPS peak positions were calibrated using the C-C bond signal with
a C 1 s binding energy of 284.5 eV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โหมดอิเล็กตรอนใช้เฟยมาเจลลันเป็นระบบที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน2 keVสำหรับหมายเลขของเฟสผลึกในชั้น TiO2 ทิวทัศน์มีมุมเอกซเรย์การเลี้ยวเบน (GAXRD) ภายใต้การเกิดของมุม 1 องศาดำเนินการใน systemas samediffractometer ใช้สำหรับ XRRmeasurementsในมุมเล็ก ๆ ของความลึกของการเจาะของรังสีเอกซ์จำกัดไปใกล้พื้นที่ผิว ดังนั้น ผลงานจากพื้นผิวส่วนใหญ่ถูกระงับไว้องค์ประกอบของหลัก constituents ตี้และ O ได้quantified โดยเอ็กซ์เรย์ที่ความยาวคลื่น dispersive fluorescence ก(WDXRF) บนตัวสเปกโตรมิเตอร์ Bruker AXS S8 ซอฟต์แวร์ Bruker AXSML Quant ถูกใช้เพื่อคำนวณ stoichiometry ชั้น TiO2ตามแบบจำลองชั้น แพคเกจนี้ซอฟต์แวร์คำนวณการ reabsorptionสรร fluorescence รองหลักและผลผลิต fluorescence ที่ชั้น และงานในแนวตั้งดังนั้นตัวอย่างการมีวัดเนื้อหาคาร์บอนและไนโตรเจนที่เหลือของภาพยนตร์โดยเอ็กซ์เรย์ photoelectron ก (XPS) บน 150 Phoibos มีรายละเอียดระบบ 9 เฮิร์ดกับแหล่ง Al Kα เอ็กซ์เรย์แยกแยะปนเปื้อนผิวคาร์บอนและคาร์บอนรวมในภาพยนตร์ในระหว่างสะสม พื้นผิวถูกทำความสะอาดใน situ โดยอาร์กอนพ่นไอออน 30 s ที่มีพลังงานไอออน 5 kV ที่ตำแหน่งสูงสุดของ XPS ถูกปรับเทียบโดยใช้สัญญาณพันธะ C-C กับC 1 s พลังงานยึดเหนี่ยวของ 284.5 eV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โหมดอิเล็กตรอนโดยใช้ระบบ FEI Magellan ที่แรงดันไฟฟ้าเร่ง
จาก 2 เคฟ.
สำหรับบัตรประจำตัวของผลึกขั้นตอนในชั้น TiO2, glancing
มุม X-ray diffraction (GAXRD) ภายใต้มุมของอุบัติการณ์ของ 1 °ได้รับการ
ดำเนินการใน samediffractometer systemas ใช้สำหรับ XRRmeasurements.
ในมุมเล็ก ๆ ของอุบัติการณ์เจาะลึกของรังสีเอกซ์
ถูกกักขังอยู่ในพื้นที่ผิวใกล้; ด้วยเหตุนี้การมีส่วนร่วมจากสารตั้งต้นที่
ถูกระงับส่วนใหญ่.
องค์ประกอบขององค์ประกอบหลัก Ti และ O ได้รับการ
วัดโดยสเปกโทรสโกเรืองแสงความยาวคลื่นกระจาย X-ray
(WDXRF) ในสเปกโตรมิเตอร์ Bruker AXS S8 ซอฟแวร์ Bruker AXS
ML ควอนท์ถูกนำมาใช้ในการคำนวณปริมาณสัมพันธ์ของชั้น TiO2.
จากรูปแบบชั้น, แพคเกจซอฟต์แวร์นี้จะคำนวณการดูดซึม
และการมีส่วนร่วมการเรืองแสงรองหลัก
ผลผลิตเรืองแสงสำหรับชั้นและด้วยเหตุนี้ในแนวตั้ง inhomogeneous
ตัวอย่าง.
คาร์บอนที่เหลือและ ปริมาณไนโตรเจนของภาพยนตร์ที่ถูกวัด
ด้วย x-ray spectroscopy โฟโตอิเล็กตรอน (XPS) ในรายละเอียด Phoibos 150
ระบบ MCD-9 กับอัลKαแหล่ง x-ray.
ในการแยกแยะความแตกต่างระหว่างผิวการปนเปื้อนคาร์บอนและคาร์บอน
นิติบุคคลที่จัดตั้งขึ้นในภาพยนตร์ในช่วงการสะสมบนพื้นผิว ได้รับการทำความสะอาด
ในแหล่งกำเนิดโดยสปัตเตอร์อาร์กอนไอออนสำหรับ 30 วินาทีที่พลังงานไอออนจาก 5 กิโลโวลต์
ตำแหน่งสูงสุด XPS ถูกสอบเทียบโดยใช้สัญญาณพันธบัตร CC กับ
C 1 วินาทีพลังงานผูกพันของ 284.5 eV

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โหมดอิเล็กตรอนโดยใช้เฟย Magellan ระบบที่เร่งแรงดัน
2 เคฟ .
สำหรับกำหนดระยะในผลึก TiO2 ชั้นผาด
มุมการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ ( gaxrd ) ภายใต้มุมตกกระทบของ 1 องศาคือ
ดำเนินการใน samediffractometer systemas ใช้ xrrmeasurements .
ที่มุมเล็ก ๆของอุบัติการณ์การเจาะความลึกของรังสีเอกซ์
ถูกกักขังอยู่ในพื้นที่ใกล้ดังนั้น ผลงานจากหลากหลาย

ส่วนใหญ่จะถูกปราบปราม องค์ประกอบขององค์ประกอบหลัก Ti และ O ได้
quantified โดยความยาวคลื่นรังสีเอกซ์ ( +
( wdxrf ) บนกล้อง s8 BRUKER ขวาน . ที่บรุคเกอร์ขวานซอฟต์แวร์
มล จํานวนถูกใช้เพื่อคำนวณปริมาณสัมพันธ์ของ TiO2 ชั้น .
ตามชั้นแบบ แพคเกจซอฟต์แวร์นี้คำนวณแก้ว
และผลงานการรองผลผลิต
เรืองหลักสำหรับชั้นและด้วยเหตุนี้แนวตั้ง inhomogeneous

เหลือคาร์บอนและไนโตรเจน ตัวอย่างเนื้อหาของภาพยนตร์จะถูกวัด
โดยเครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) ในรายละเอียด phoibos 150
ระบบ mcd-9 กับ อัล เคαแหล่งกำเนิดรังสี - x .
ที่จะแยกแยะระหว่างการปนเปื้อนพื้นผิวคาร์บอนและคาร์บอน
บริษัทภาพยนตร์ในช่วงสะสม , พื้นผิวสะอาด
ใน situ โดยอาร์กอนไอออนส 30 S ที่เป็นไอออนพลังงาน 5 KV .
XPS ตำแหน่งสูงสุดคือการปรับสัญญาณ c-c พันธบัตรกับ
C 1 ของพลังงานยึดเหนี่ยวของ 284.5 EV