XRD is very sensitive at low angles

XRD is very sensitive at low angles 2θ, which is the critical
area for determining the interlayer spacing. Therefore,
the absence of peaks does not mean that exfoliation is
completely achieved but that they are intercalated due
to large spacing. TEM provides a most direct way to
examine the states of clay exfoliation as this technique
can image materials on the nanometer scale. The states
of clay exfoliation, such as whether the clay is intercalated
or exfoliated, can be observed directly. Wetzel13 used
TEM technique to visualize the dispersion quality of
nanoparticles. He founded homogeneous distribution
of nano particles with some small agglomerates in the
matrix. TEM micrographs in Figure 1 conforms the
uniform distribution of nanosilica in Epikote 8286. There
was no agglomeration of the SiO2 nanoparticles even at
high volume fraction.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

XRD มีความสำคัญมากที่มุมต่ำ 2θ ซึ่งเป็นที่สำคัญพื้นที่สำหรับการกำหนดระยะห่าง interlayer ดังนั้นขาดยอดไม่ได้หมายความ ว่า ขัดผิวเป็นทำได้แต่ว่าพวกเขาจะแนะครบสมบูรณ์ขนาดระยะห่าง TEM มีวิธีตรงที่สุดตรวจสอบสถานะของการขัดผิวดินเป็นเทคนิคนี้สามารถภาพวัสดุในระดับนาโนเมตร อเมริกาการขัดผิวดิน เช่นว่าแนะนำดินหรือผงก จะสังเกตได้โดยตรง ใช้ Wetzel13เทคนิค TEM แสดงภาพคุณภาพการกระจายตัวของเก็บกัก เขาก่อตั้งกระจายเป็นเนื้อเดียวกันอนุภาคนาโนกับ agglomerates บางขนาดเล็กในการเมทริกซ์ TEM micrographs ในรูปที่ 1 สอดคล้องกับกระจายสม่ำเสมอของ nanosilica ใน Epikote 8286 มีไม่รวมตัวกันเก็บกัก SiO2 แม้ถูกส่วนสูง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

XRD มีความสำคัญมากในมุมที่ต่ำ2θซึ่งเป็นที่สำคัญ
ในพื้นที่สำหรับการกำหนดระยะห่าง interlayer ดังนั้น
กรณีที่ไม่มียอดเขาไม่ได้หมายความว่าขัดจะ
ประสบความสำเร็จอย่างสมบูรณ์ แต่ที่พวกเขาจะอธิกมาสเนื่องจาก
ระยะห่างขนาดใหญ่ TEM ให้เป็นวิธีที่ตรงที่สุดในการ
ตรวจสอบสถานะของการผลัดเซลล์ผิวดินเป็นเทคนิคนี้
สามารถวัสดุภาพในระดับนาโนเมตร รัฐ
ของการผลัดเซลล์ผิวดินเช่นว่าดินเป็นอธิกมาส
หรือ exfoliated สามารถสังเกตเห็นได้โดยตรง Wetzel13 ใช้
เทคนิค TEM ที่จะเห็นภาพที่มีคุณภาพที่กระจายตัวของ
อนุภาคนาโน เขาก่อตั้งขึ้นกระจายเป็นเนื้อเดียวกัน
ของอนุภาคนาโนที่มีขนาดเล็ก agglomerates บางอย่างใน
เมทริกซ์ ไมโคร TEM ในรูปที่ 1 สอดคล้อง
เครื่องแบบกระจายของ nanosilica ใน Epikote 8286. มี
การรวมตัวกันของอนุภาคนาโน SiO2 ไม่ได้แม้ใน
ส่วนที่มีปริมาณสูง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

XRD อ่อนไหวมากในมุมที่ 2 θต่ำ ซึ่งเป็นวิกฤตพื้นที่สำหรับการเป็นตัวเชื่อมระยะห่าง ดังนั้นไม่มียอด ไม่ได้หมายความว่า การขัด คือเลยได้แต่ที่พวกเขาจะ ) เนื่องจากกับระยะห่างที่ใหญ่ TEM มีวิธีการโดยตรงมากที่สุดตรวจสอบสภาพดินอ่อนเป็นเทคนิคนี้สามารถภาพวัสดุในระดับนาโนเมตร ที่สหรัฐอเมริกาของดินอ่อน เช่นว่าดินมีอธิกมาสหรือขัด สามารถสังเกตได้โดยตรง wetzel13 ใช้แบบเห็นภาพการกระจายคุณภาพของเทคนิคอนุภาค ที่เขาก่อตั้งขึ้นกระจายเป็นเนื้อเดียวกันของอนุภาคนาโนที่มีขนาดเล็ก รวม ในเมทริกซ์ กล้องจุลทรรศน์แบบส่องผ่านในรูปที่ 1 ซึ่งสอดคล้องการแจกแจงเอกรูปของนาโนซิลิกาใน epikote 8286 . มียังไม่มีการรวมตัวกันของ SiO2 นาโนที่ส่วนปริมาณสูง