electron microscope (SEM:S-3000 N,

electron microscope (SEM:
S-3000 N, Hitachi, Japan) on gold-coated specimens. Close examination
of the microstructure of the samples was further carried
out by transmission electron microscopy (TEM: JEOL 2100, Japan).
High-resolution X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) studies
were performed with a Kratos AXIS Ultra X-ray photoelectron spectrometer.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM:S-3000 N ฮิตาชิ ญี่ปุ่น) บนเคลือบทองไว้เป็นตัวอย่าง ปิดสอบของต่อโครงสร้างจุลภาคของตัวอย่างเพิ่มเติมทำออก โดยการส่งผ่านอิเล็กตรอน microscopy (ยการ: JEOL 2100 ญี่ปุ่น)ความละเอียดสูงเอกซเรย์ photoelectron ก (XPS) ศึกษาได้ดำเนินการ ด้วยการเอ็กซ์เรย์พิเศษแกน Kratos photoelectron สเปกโตรมิเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM:
S-3000 N, ฮิตาชิ, ญี่ปุ่น) ในตัวอย่างทองเคลือบ ปิดการตรวจสอบ
ของโครงสร้างจุลภาคของกลุ่มตัวอย่างได้รับการดำเนินการต่อไป
โดยการส่งผ่านกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน. (TEM: JEOL 2100 ญี่ปุ่น)
ความละเอียดสูง X-ray สเปกโทรสโกโฟโตอิเล็กตรอน (XPS) การศึกษา
ได้รับการดำเนินการกับ Kratos AXIS อัลตร้าเอ็กซ์เรย์โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโตรมิเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM :
s-3000 N , Hitachi , ญี่ปุ่น ) บนผิวเคลือบทอง ใกล้สอบ
ของโครงสร้างจุลภาคของกลุ่มตัวอย่างยังอุ้ม
โดยส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM : จอล 2100 , ญี่ปุ่น ) .
ความละเอียดสูง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) เรียน
แสดงด้วย X-ray photoelectron Kratos แกนพิเศษสเปกโตรมิเตอร์