The amount and scale of the informa

The amount and scale of the information which can be extracted by TEM depends critically on four parameters; the resolving power of the microscope (usually smaller than 0.3 nm); the energy spread of the electron beam (often several eV); the thickness of the specimen (almost always significantly less than 1 um), and ; the composition and stability of the specimen.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จำนวนและขนาดของข้อมูลที่สามารถถูกแยก โดยยการเหลือขึ้นอยู่กับพารามิเตอร์ที่สี่ อำนาจ resolving ของกล้องจุลทรรศน์ (มักจะมีขนาดเล็กกว่า 0.3 nm); การแพร่กระจายพลังงานของลำแสงอิเล็กตรอน (มักหลาย eV); ความหนาของ (เกือบจะมากน้อยกว่า 1 อุ่ม), และ องค์ประกอบและความมั่นคงของการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จำนวนและขนาดของข้อมูลที่สามารถสกัดโดย TEM ขึ้นอยู่กับวิกฤตสี่พารามิเตอร์ อำนาจการแก้ไขกล้องจุลทรรศน์ (โดยปกติจะมีขนาดเล็กกว่า 0.3 นาโนเมตร); การแพร่กระจายของพลังงานลำแสงอิเล็กตรอน (มักหลาย eV); ความหนาของชิ้นงาน (ที่มักจะมีนัยสำคัญน้อยกว่า 1 ไมครอน) และ; องค์ประกอบและความมั่นคงของชิ้นงาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

the ( amount ห้อยของ the information which : extracted by tem depends critically แห่เข้าวัยสาวถูก ทําเป็น the ดิ๊ค ( usually ๓ than 0.3 nm ) ; the energy มันยาก the electron beam ( กับฉัน several ชู ) ; the สัดและโดดเดี่ยวใช้สํา significantly less ถือเป็น um ่น ; the องค์ประกอบและความเสถียรของตัวอย่าง