th Scanning tunneling microscope.Th

th Scanning tunneling microscope.

These pollen grains taken on an SEM show the characteristic depth of field of SEM micrographs.

M. von Ardenne's first SEM

SEM opened sample chamber

Analog type SEM
A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that produces images of a sample by scanning it with a focused beam of electrons. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that can be detected and that contain information about the sample's surface topography and composition. The electron beam is generally scanned in a raster scan pattern, and the beam's position is combined with the detected signal to produce an image. SEM can achieve resolution better than 1 nanometer. Specimens can be observed in high vacuum, in low vacuum, in wet conditions (in environmental SEM), and at a wide range of cryogenic or elevated temperatures.

The most common SEM mode is detection of secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam. The number of secondary electrons depends on the angle at which beam meets surface of specimen,[citation needed] i.e. on specimen topography. By scanning the sample and collecting the secondary electrons with a special detector, an image displaying the topography of the surface is created.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ครั้งกล้องจุลทรรศน์อุโมงค์สแกน. เหล่าละอองเรณูดำเนินการใน SEM แสดงลักษณะความลึกของเขตของ SEM ไมโคร. เอ็ม ฟอน Ardenne แรกของ SEM SEM เปิดตัวอย่างห้องประเภทอนาล็อกSEM สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) เป็นชนิดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ผลิตภาพตัวอย่างโดยการสแกนด้วยลำแสงเน้นอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนโต้ตอบกับอะตอมในตัวอย่างการผลิตสัญญาณต่างๆที่สามารถตรวจพบและที่มีข้อมูลเกี่ยวกับพื้นผิวภูมิประเทศตัวอย่างและองค์ประกอบ ลำแสงอิเล็กตรอนจะถูกสแกนโดยทั่วไปในรูปแบบแรสเตอร์สแกนและตำแหน่งของลำแสงที่เป็นบวกกับสัญญาณที่ตรวจพบในการผลิตภาพ SEM สามารถบรรลุความละเอียดดีกว่า 1 นาโนเมตร ตัวอย่างที่สามารถสังเกตได้ในสูญญากาศสูงในสูญญากาศต่ำในสภาพเปียก (ในสิ่งแวดล้อม SEM) และในช่วงกว้างของอุณหภูมิแช่แข็งหรือสูง. โหมด SEM พบมากที่สุดคือการตรวจสอบของอิเล็กตรอนปล่อยออกมาจากอะตอมตื่นเต้นโดยลำแสงอิเล็กตรอน . จำนวนของอิเล็กตรอนที่สองขึ้นอยู่กับมุมที่ตรงกับคานพื้นผิวของชิ้นงาน, [อ้างจำเป็น] เช่นในภูมิประเทศตัวอย่าง โดยการสแกนตัวอย่างและเก็บอิเล็กตรอนรองกับเครื่องตรวจจับพิเศษภาพแสดงลักษณะทางกายภาพของพื้นผิวที่ถูกสร้างขึ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

th กล้องจุลทรรศน์ tunneling .

เหล่านี้เรณูถ่ายบน SEM แสดงความลึกของเขตข้อมูลในลักษณะนี้ micrographs

ม. จาก ardenne ก่อน SEM SEM เปิดห้องตัวอย่างค่ะ




เป็นแบบแอนะล็อกชนิดโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เป็นชนิดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ผลิตในรูปของตัวอย่างโดย สแกนด้วยโฟกัสลำแสงอิเล็กตรอนอิเล็กตรอนโต้ตอบกับอะตอมที่ใช้ในการผลิตสัญญาณต่าง ๆ ที่สามารถตรวจพบ และมีข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างพื้นผิวภูมิประเทศและองค์ประกอบที่ อิเล็กตรอนลำแสงทั่วไปสแกนในรูปแบบแรสเตอร์สแกน และตำแหน่งของแสงรวมกับที่ตรวจพบสัญญาณในการผลิตภาพ SEM สามารถให้ความละเอียดที่ดีกว่า 1 นาโนเมตร .ชิ้นงานที่สามารถสังเกตได้ในสุญญากาศในสุญญากาศต่ำ ในสภาวะเปียก ( ใน SEM สิ่งแวดล้อม ) และในช่วงกว้างของอุณหภูมิสูงหรืออุณหภูมิ .

โหมดนี้ที่พบบ่อยที่สุดคือตรวจจับรองอิเล็กตรอนออกมาจากอะตอมตื่นเต้นโดยลำแสงอิเล็กตรอน . จำนวนอิเล็กตรอนทุติยภูมิขึ้นอยู่กับมุมที่แสงกับพื้นผิวของชิ้นงาน [ อ้างอิงที่จำเป็น ] เช่นบนชิ้นงานลักษณะภูมิประเทศ โดยการสแกนตัวอย่างและการเก็บรวบรวมอิเล็กตรอนทุติยภูมิด้วยเครื่องพิเศษ , ภาพแสดงลักษณะของพื้นผิวที่สร้างขึ้น