obtained in the parent silver–chito

obtained in the parent silver–chitosan dispersions and
to observe their distribution in the cast films. Electron
diffraction and energy dispersive spectroscopy (EDS) were
used to confirm the presence of silver in the samples. Silver
particle-size distributions in the dispersions or in the films
were determined statistically using the National Instruments
IMAQ Vision Builder software (N D 200 particles). Scanning
electron microscopy was carried out on a FEI Inspect
F50 scanning electron microscope used to visualize the
morphology of the films.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ได้รับใน dispersions ซิลเวอร์ – ไคโตซานหลัก และสังเกตการกระจายในฟิล์มหล่อ อิเล็กตรอนการเลี้ยวเบนและพลังงานก dispersive (EDS)ใช้เพื่อยืนยันสถานะของเงินในตัวอย่าง ซิลเวอร์การกระจายขนาดอนุภาค ในการ dispersions หรือ ในภาพยนตร์มีกำหนดทางสถิติโดยใช้เครื่องมือแห่งชาติสร้างวิสัยทัศน์ IMAQ ซอฟต์แวร์ (N D 200 อนุภาค) การสแกนmicroscopy อิเล็กตรอนถูกดำเนินการบนหุยตรวจสอบกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน F50 ใช้เห็นภาพสัณฐานวิทยาของภาพยนตร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ที่ได้รับในผู้ปกครองกระจายเงินไคโตซานและ
การสังเกตการกระจายของพวกเขาในภาพยนตร์นักแสดง อิเล็กตรอน
เลนส์และกระจายพลังงานของรังสี (EDS) ถูกนำมา
ใช้ในการยืนยันการปรากฏตัวของเงินในตัวอย่าง เงิน
กระจายอนุภาคขนาดกระจายหรือในภาพยนตร์
ได้รับการพิจารณาโดยใช้สถิติแห่งชาติ Instruments
IMAQ วิสัยทัศน์สร้างซอฟแวร์ (ND 200 อนุภาค) สแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนได้ดำเนินการเกี่ยวกับการตรวจสอบ FEI
F50 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดใช้ในการมองเห็น
ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของภาพยนตร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่ได้รับในครอบครัวเงิน–ไคโตซานและ dispersions
สังเกตการกระจายของพวกเขาในนักแสดงภาพยนตร์ การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนพลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปีและ

( EDS ) ถูกใช้เพื่อยืนยันสถานะของเงินในตัวอย่างที่ เงิน
กระจายขนาดของอนุภาคเป็นแบบในการกระจายหรือในหนัง

เครื่องมือวิเคราะห์โดยใช้สถิติแห่งชาติซอฟต์แวร์สร้างวิสัยทัศน์ imaq ( N D 200 อนุภาค ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน
ถูกหามออกในเฟยตรวจสอบ
F50 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ใช้ในการจินตนาการ
สัณฐานวิทยาของภาพยนตร์